Вариант №15 Задача №1 По заданному при комнатной температуре значению тока I0=5*10-6 в идеальном несимметричном p+-n - переходе, площадью S=0,1 см2. Определить: 1. Материал (Si или Ge), из которого выполнен переход. Материал легко определить по значению I0, который является током неосновных носителей. Их концентрация, согласно: pp*np=ni2 - для полупроводника p – типа nn*pn=ni2 - для полупроводника n – типа где ni – концентрация собственных носителей в полупроводнике, пропорциональна ni2, которая по: ni2=NcNv*e(-ΔE0/kT) где ΔE0 – ширина запрещенной зоны полупроводника; Nc,v – эффективные плотности состояний в зоне проводимости и валентной зоне полупроводника соответственно. зависит от ширины запрещенной зоны ΔE0. Поскольку у германия она меньше чем кремния, т.е. у Ge электронам легче преодолеть запрещенную зону и стать свободными, то niGe >> niSi, поэтому I0Ge >> I0Si. В Ge I0 измеряется в мкА(10-6), а в Si в нА (10-9). Так как I0 = 5*10-6 >> I0Si, то материал, из которого выполнен переход, является Ge. 2. Тип и концентрацию неосновных носителей заряда в базе. Так как предпоследняя цифра студенческого билета, это 1 (нечетная), то используется р+ - n – переход. p+ - эмиттер n – база Неосновным носителем зарядов в базе являются дырки. Определим концентрацию неосновных носителей дырок в области p n . I0=S(qDp/Lp*Pn0+qDn/Ln*np0), где S – площадь перехода, Dn,p – коэффициент диффузии неосновных носителей заряда, соответственно дырок в n – области перехода и электронов в p – области, Pn0 и np0 – концентрации неосновных носителей заряда, Lp,n – диффузионные длины неосновных носителей заряда. L p,n Диффузионная длина и коэффициент диффузии связаны соотношением (D p,n * τ p,n ) , где p,n - время жизни дырок и электронов (в расчетах можно считать p,n =1мкс.). Согласно соотношению Эйнштейна. D p,n T * μ p,n , где μ p,n - подвижность дырок и электронов соответственно. Так как нас интересует неосновной носитель базы, то мы пренебрегаем правым слагаемым, получим: I0=S(qDp/Lp*Pn0) отсюда мы сможем найти Pn0: Pn0=(I0*Lp)/(S*q*Dp) нам известны: I0 = 5*10-6, S = 0,1 см2, q = 1,6*10-19 Кл, найдем D p t * μ p t - kT/q –температурный потенциал, при комнатной температуре t = 0,026 В, μ p - подвижность дырок μ p = 1900 см2/B*C. Dр = 0,026*1900 = 49,162 найдем L p (D p * τ p ) τ p - время жизни дырок p =1 мкс = 10-6 с. L p (49,162 *10-6 ) 0,007 полученные данные подставим и получим: 5 *10 6 * 0,007 pn0= = 44,871 * 109 1/см3 19 0,1*1,6 *10 * 49,162 3. Тип и концентрацию примеси, а так же тип и концентрацию основных носителей заряда в базе. Для диапазона температур, в котором находятся p – n – переходы, концентрация основных носителей практически равна концентрации атомов примеси, т.е. в «электронном» полупроводнике «n» - типа концентрация электронов n равна концентрации атомов донорной примеси Nдон, в «дырочном» полупроводнике «р» - типа концентрация дырок р равна концентрации атомов акцепторной примеси Nакц. В нашем случае мы получаем, что тип примеси в базе является донорная Nдон. А ее концентрация равна: nn = Nдон. Основным носителем заряда в базе являются «электроны» nn , а ее концентрацию, мы выведем из закона термодинамического равновесия: nn*pn = ni2 где ni – концентрация собственных носителей в полупроводнике. ni2=NcNv*e(-ΔE0/kT) где ΔE0 – ширина запрещенной зоны полупроводника ΔE0 = 0,66 Эв; Nc,v – эффективные плотности состояний в зоне проводимости и валентной зоне полупроводника соответственно Nv = 6,1*1018 см-3, Nc = 1,04*1019 см-3; k – постоянная Больцмана k = 1,38*10-23 Дж/К = 8,62*10 5 ЭВ/К; Т – абсолютная температура Т = 300 К. 0.66 2 ni = 19 1.04 10 18 6.1 10 e 5 8.6210 300 26 5.227 10 -концентрация собственных носителей nn = ni2/pn nn 5,227 *10 26 1,164 *1016 см 3 9 44,871 *10 nn =Nдон.= 1,164*1016 см-3 - концентрация примесей 4. Тип и концентрацию основных и не основных носителей заряда в эмиттере, а так же тип и концентрацию примеси, внесенной в область эмиттера. Основным носителем заряда в эмиттере, являются дырки pp, Не основным носителем заряда в эмиттере, являются электроны np Тип примеси, внесенной в область эмиттера является акцепторной Nакц. Область р с повышенной концентрацией примеси, следовательно Nакц = pp на несколько порядков выше чем примесь внесенная в область базы. Nприм = Nакц = 1018 см-3 = рр Концентрация основных носителей заряда дырок: рр = 1018 см-3 Определим концентрацию неосновных носителей заряда в эмиттере. Неосновные носители – электроны. рр*np = ni2 np = ni2/ pp = 𝟓,𝟐𝟐𝟕∗𝟏𝟎^(𝟐𝟔) 𝟏𝟎^(𝟏𝟖) = 5.227*108см-3 5. Контактную разность потенциалов φк для двух значений температур: t1 – комнатная, t2 = t1 + Δt Δt = 24 T – комнатная t1 = 200C, T1 = 293K Для расчета контактной разности потенциалов φк воспользуемся формулой: φк = φтln(NaNдон/ ni2) φт - kT/q, В 0.66 2 (-ΔE0/kT) ni =NcNv*e = 19 1.04 10 18 6.1 10 e 5 8.6210 293 26 2.841 10 см-6 N акц * N дон 1,38 *10 23 * 293 1,164 *1016 *1018 * ln( ) 0,025 * ln 0,438 φк = φтln(NaNдон/ ni ) = 1,6 *10 19 ni2 2,841*10 26 2 t2 = t1 + Δt = 440 C T2 = 317 K 0, 66 2 (-ΔE0/kT) ni = NcNv*e = 1,04 *10 * 6,1*10 * е 19 φк = φтln(NaNдон/ ni2) = 18 8, 62*105 *317 2,05 *10 27 см 6 N акц * N дон 1,38 *10 23 * 317 1,164 *1016 *1018 * ln( ) 0 , 027 * ln 0,419 1,6 *10 19 ni2 2,05 *10 27 Вывод: с увеличением температуры концентрация носителей увеличивается, а контактная разность потенциалов уменьшается. 6. L – ширину обедненной области или p – n – перехода эмиттер – база. Сделать вывод о влиянии концентрации примеси на L для симметричного и несимметричного p – n – переходов. Изобразить заданный p – n – переход. Для расчета ширины обедненной области используем следующею формулу: Lp-n = (2ε 0 /qN б )(к U) , где: Nб – концентрация примесей в базе, = Nдон = 1,164*10 16 см-3, φк – контактная разность потенциалов, ε0 = 8,85*10-12 Ф/М = 8,85*10-14 Ф/см ε - относительная диэлектрическая постоянная полупроводника. Lp-n = 2 *16 * 8,85 *10 12 * 0,438 25,8 *10 5 см 2,5 мксм 19 16 1 , 6 * 10 * 1,164 * 10 Несимметричный p+ - n - переход 7. Записать условие электрической нейтральности для областей эмиттера и базы, так же для всей системы в состоянии равновесия. 1. Область эмиттера р –типа. Положительный суммарный заряд основных носителей (дырок) отрицательным суммарным зарядом неподвижных ионов акцепторов. уравновешен 2. Область базы n – типа. Отрицательный суммарный заряд электронов (основных носителей) уравновешен суммарным зарядом положительных ионов дырок. 3. Условие электрической нейтральности Σ+q = Σ-q Сумма положительных зарядов, равна сумме отрицательных зарядов. Нейтральность нарушается только вблизи границ в обедненной области), хотя в целом p – n переход тоже нейтрален, т.к. Q+дон = Q-акц. 8. Приложить к заданному p – n – переходу сначала прямое, потом обратное напряжение и на одном графике построить вольтамперные характеристики (ВАХ) для двух значений температур t2 и t1. Пояснить влияние температуры на прямую и обратную ветви ВАХ. T1 = 293К, Т2 = 317К Iпр = I0 (eu/φT-1) I0 = 5*10-6 A T1 = 293 K где φ = kT/q Iпр = I0 (euq/kT-1) Рассчитаем значение Iпр при Uпр равное: 0,15; 0,2;0,25; 0,275; 0,3 В. Полученные значения запишем в таблицу 1. Т1 = 293К Uпр, В 0,15 0,2 0,25 0,275 0,3 Iпр, mA 1,894 13,753 99,6 270,8 721,8 Сдиф, пФ 72843 528940 3830616 10414968 27760428 Сбар, пФ 47738,8 52600 59190 63580 69100 4,73 29,371 180,780 445,082 1111,01 Т2 = Iпр, mA 317К Рассчитаем Сдиф от Iпр: Cдиф = ( б / t )*Iпр б - время жизни неосновных носителей в базе (дырок). n = 1 мкс = 10-6 с. t = 0,026 В, при температуре Т=293 К Рассчитаем значение Cдиф от Iпр полученные значения запишем в таблицу 1. Рассчитаем барьерную емкость по формуле: Сбар = εε0S/Lp-n Изменение приложенного напряжения Uпр к p+ - n – переходу влечет за собой изменение ширины перехода. При увеличении Uпр , ширина Lp-n уменьшается. Lp-n = (2ε 0 /qN б )(к U) Т = 293К Lp-n(Uпр1) = 296,614*10-6 см Lp-n(Uпр2) = 269,2*10-6 см Lp-n(Uпр3) = 239,2*10-6 см Lp-n(Uпр4) = 222,7*10-6 см Lp-n(Uпр5) = 204,9*10-6 см Сбар определим из соотношения: Сбар = εε0S/Lp-n. Полученные значения запишем в табл. 1 где: S = 0,1 см2 Сбар = Сбар = Сбар = Сбар = Сбар = 6768 пФ 7444 пФ 8378 пФ 9210 пФ 9772 пФ С увеличением Uпр Сбар и Cдиф увеличивается. Iпр так же увеличивается. Рассчитаем значение Iпр при Т = 317К ni2=NcNv*e(-ΔE0/kT) = 2,05 *1027 см-6 pn0 = 2,05 *10 27 17,6 *1010 см 3 16 1,164 *10 I0=S(qDp/Lp*pn0) = S*q* t * μ p * pn0/ Т * μ p * τ p = 20,57*10-6 I = I0 (euq/kT-1) Рассчитаем значение Iпр от Uпр. Полученные значения запишем в таблицу 1. Приложим к p+ - n – переходу обратное напряжение и рассчитаем обратный ток, емкость барьерную при Т = 328К. Iобр = I0 (euq/kT-1) I0 = 5*10-6 Uобр = -0,05; -0,1; -0,15; -0,2; -1; -2 В. Полученные значения занесем в таблицу 2. Uобр, В -0,05 -0,1 -0,15 -0,2 -1 -2 Т1= Iобр, mkA -4,3 -4,90 -4,98 -4,998 -5 -5 293К Сбар, пФ 51982 49506,9 57357,9 45472,1 30282,3 23258,9 -17,22 -20,02 -20,48 -20,55 -20,57 -20,57 Т2 317К = Iобр, мkА Рассчитаем барьерную емкость. При обратном напряжении n – p – переход расширяется, а барьерная емкость уменьшается. Определим значения ширины Lp-n, при различных значениях напряжения Uобр Lp-n(Uобр1) = 272,4*10-6 см Lp-n(Uобр2) = 286,021*10-6 см Lp-n(Uобр3) = 299*10-6 см Lp-n(Uобр4) = 311,4*10-6 смр Lp-n(Uобр5) = 467,6*10-6 см Lp-n(Uобр6) = 608,8*10-6 см Сбар определим из соотношения: Сбар = εε0S/Lp-n. Полученные значения запишем в табл. 2 Определим Iобр при Т2 = 317К Все значения запишем в таблицу 2. I0 = 20,57*10-6 Вольт – амперная характеристика. Ток, проходящий через p – n – переход, зависит от величины и полярности приложенного напряжения. Это зависимость выражается формулой: I = I0 (equ/kT-1) I - ток через p – n – переход; I0 - тепловой ток; U - приложенное внешнее напряжение; K - постоянная Больцмана; Т - температура. Из формулы видно, что ток через p – n – переход зависит не только от приложенного напряжения, но и от температуры. Ассиметричный характер ВАХ p – n – перехода свидетельствует о важнейшем свойстве p – n – перехода свойстве односторонней проводимости. Iпр >> Iобр (mA) (мкА) 9. Начертить зонные диаграммы в равновесном состоянии, а так же при прямом и обратном напряжении. а. Рассмотрим зонную диаграмму в равновесном состоянии (U = 0) В равновесном состоянии p – n – перехода уровень Ферми во всех областях одинаков. Контакт p – n – перехода приводит к искривлению энергетических зон: все энергетические зоны полупроводника n – типа оказываются ниже соответствующих энергетических зон p – полупроводника. На границе p и n областей появляется потенциальный барьер, который тормозит проникновение электронов из области n в p область и дырок из р области в n область. Величина энергетического барьера равна: ЭБ = qUk Этот потенциальный барьер является ускоряющим для перемещения электронов из p – области в n - область и дырок из n – области в p – область, т.е. для дрейфового тока. В равновесном состоянии диффузионный ток компенсируется дрейфовым током и суммарный ток через p – n переход равен 0. б. Рассмотрим зонную диаграмму при прямом включении p – n – перехода (U > 0) Прямое напряжение уменьшает величину энергетического барьера на величину qUпр ЭБ = q(Uk – Uпр) Все энергетические уровни n – области, в том числе и уровень Ферми, поднимутся относительно уровней p – области на ту же величину qUпр. Прямое напряжении уменьшает ширину запирающего слоя и сопротивления p – n – перехода. Уровень Ферми окажется различным для p и n областей полупроводника, из за различия уровня Ферми через p – n – переход осуществляется направленное движение носителей (движение электронов из n – области в p – область). Ток через p – n – переход: Iпр = Ip-n диф + Ip-n др ≠ 0 По мере увеличения внешнего прямого напряжения через p – n – переход потечет большой ток, обусловленный движением основных носителей зарядов (nn, pp). в. Рассмотрим зонную диаграмму при обратном включении p – n – перехода (U < 0) При этом увеличится ширина запирающего слоя. Увеличивается высота потенциального барьера p – n – перехода на Uобр ЭБ = q(Uk - Uобр) Из за этого уменьшается возможность проникновения через ЭБ основных носителей зарядов (электронов и дырок), а неосновные носители зарядов легко проходят через p – n – переход. При обратном включении внешнего напряжения нарушается равновесие между дрейфовым и диффузными токами. Iдр > Iдиф Все энергетические уровни n – области, в том числе и уровень Ферми окажутся различными для p – n – областей из за различия уровней Ферми Wf через p – n – переход осуществляется направленное движение неосновных носителей (nn, pp). 10. Рассчитать вольт – фарадные характеристики для барьерной Сбар и диффузионной Сдиф емкостей. Построим вольт – фарадную характеристику по данным из табл. 1. 0.00003 0.000025 0.00002 0.000015 0.00001 0.000005 0 0 Рассчитаем ВФХ для Сбар: 0.1 0.2 0.3 0.4 Сбар = Сбо/ (1 U/ k ) где, Сбо = S (qε 0 N б /2 k , при U = 0, k = 0,438 Сбо S* = (q * * 0 * N б ) 1,6 *10 0,1* 2 *k 19 12 16 * 8,85 *10 *1,164 *10 2 * 0,438 4,11*10 9 Ф 4112,1пФ Рассчитаем Сбар – значения U возьмем из таблиц 1 и 2. Полученные данные запишем в таблицу 3. Таблица 3 U, В Сбар, пФ 0,15 0,2 0,25 0,275 0,3 -0,05 -0,1 -0,15 -0,2 -1 -2 5071,79 5575,24 6270,89 6733 7315,09 3895,74 3710,30 3549,04 3407,14 2269,45 1742,95 Построим ВФХ по данным таблицы 3. Сбо = 4112.1 пФ 8E-09 7E-09 6E-09 5E-09 4E-09 3E-09 2E-09 1E-09 0 -2.5 -2 -1.5 -1 -0.5 0 0.5 11. Рассчитать R0 сопротивление постоянному току и rдиф переменному току на прямой ветви в точке, соответствующей Iпр = 10 mA, и обратной ветви в точке, соответствующей U =- 1 В. По результатам расчета сделать вывод о самом главном свойстве p – n – перехода. На прямой ветви Iпр = 10мА Rо пр = Uпр/Iпр = 0,19206/10*10-3 = 19,206 Ом rдиф пр = φT/Iпр = 0,026/10*10-3 =2,6 Ом На обратной ветви Uобр = 1 В Rо обр = Uобр/Iобр = 1/5*10-6 = 0,2 МОм rдиф обр = ∞ По данным расчетам можно сделать вывод о самом важном свойстве p – n – перехода: переход обладает односторонней проводимостью. Iпр >> Iобр 12. Начертить мало-сигнальную электрическую модель заданного p – n – перехода для двух точек. Для малых сигналов в заданной рабочей точке нелинейный p – n – переход заменяют линейной электронной моделью. Iпр = 10*10-3 A rдиф = 2,6 Ом С = Сбар+Сдиф, пФ При U = Uобр = 1B, rдиф → ∞, поэтому в модели остается только С=Сбар Задача №2 Uобр=1B rдиф → ∞ С=Сбар= 2269,45 пФ Федеральное агентство связи Волго-Вятский филиал Московского технического университета связи и информатики __________________________________________________________ Контрольная работа №1 По курсу “Физические основы электроники” Выполнила : Проверил: Перепеченков Н.Ф. Специальность: 270700 Студ.билет: №13115