Приложение Б. Памятка для студентов направления «Приборостроение», изучающих дисциплину «Неразрушающие методы контроля технологических процессов». Утверждаю: Зав. кафедрой ИТ _________ С.П. Пронин «___»__________2011 г. Вариативная дисциплина «Неразрушающие методы контроля технологических процессов» (БЗ.В.6) изучается в 9-ом семестре. Включает: лекций – 17час., лабораторных работ – 34 час., СРС – 93 час., форма промежуточной аттестации – экзамен. 1. Содержание дисциплины. Модуль 1. Общие вопросы разработки и применения СНК параметров технологических процессов. Лекция № 1. Неразрушающие методы и средства контроля, их классификация и требования к параметрам СНК. Методика расчета и проектирования СНК: выбор типа преобразователя, выявление и классификация составляющих результирующей погрешности, расчет относительной чувствительности, составление и анализ уравнения погрешностей преобразователя, определение требований к доступным отклонениям влияющих величин, определение* конструктивно-технологических параметров преобразователя, выбор измерительного устройства. 1 час. [2, 3] Модуль 2. Емкостные методы и средства неразрушающего контроля технологических параметров. Лекция № 2. Емкостные ПИП для микромеров: основные понятия и определния, физические основы и классификация по измеряемой емкости, функциональные схемы и их расчетные модели. Расчет номинальной статической характеристики измерительного преобразователя методами конформного преобразования и непосредственного определения напряженности поля. Определение составляющих относительной погрешности. 1 час. [3] Лекция № 3. Электрокондуктометрические ПИП: физические основы, расчетные 1 модели, основные характеристики, измерительные цепи, область применения. Расчет электрокондуктометрических ПИП по электрической проводимости с использованием свойства аналогии потенциальных полей. 0,5 час. [1,3,5] Модуль 3. Электромагнитные методы и средства неразрушающего контроля технологических параметров. Лекция № 4. Индуктивные ПИП: физические и математические основы, измерительные цепи, область применения. Расчет и проектирование индуктивных ПИП по магнитной проводимости с использованием свойства аналогии потенциальных полей. 0,5 час. [1, 3] Лекция № 5. Трансформаторные (взаимоиндуктивные) индукционные, вихретоковые и магнитоупругие ПИП: принцип работы, схемы, основные характеристики, измерительные цепи, область применения. 0,5 час. [1, 4, 5] Модуль 4. Электромагнитные методы и средства неразрушающего контроля технологических параметров. Лекция № 6. Термоэлектрические, терморезистивные и теплокондуктометрические ПИП: физические и математические основы, конструкции, область применения. Расчет теплокондуктометрического ПИП с использованием свойств аналогии потенциальных полей. 0,5 час. [3, 6] Модуль 5. Пьезоэлектрические ПИП. Лекция № 7. Пьезоэлектрический ПИП: принцип действия, эквивалентная схема, основные параметры, измерительные цепи, область применения. 1час. [1, 2, 6] Модуль 6. Оптические методы и СНК параметров технологических процессов. Лекция № 8. Фоторезистивные, фотоэлектрические полупроводниковые ПИП и фотоэлектрические ПИП на основе вторичной электронной эмиссии: физические и математические основы, характеристики, измерительные цепи, область применения. 0,5час. [4, 5] Лекция № 9. Оптоэлектронные ПИП на основе ПЗС - структур и интегральных фото диодных матриц: физические основы, структура, основные характеристики и область применения. 0,5 час. [1] 2 2. Литература и учебно-методические материалы и пособия. Основная литература 1. Раннев Г.Г. Методы и средства измерений: учебник / Г.Г. Раннев, А.П. Тарасенко. – М.: Изд. центр «Акадения», 2010. – 430с. – 20 экз. 2. Шишмарев В.Ю. Измерительная техника: учебник для студ. сред. проф. образования / В.Ю. Шишмарев. – М.: Издат.центр «Акадения», 2008. – 288с. – 15 экз. 3. Воронцов Л.Н. Приборы автоматического контроля размеров в машиностроении: учебн. пособие для вузов по специальности «Приборы точной механики». М.: Машиностроение, 2007. – 280с. – 15экз. Дополнительная литература 4. Виглеб Г. Датчики.: Пер с нем. – М.: Мир, 1989. – 320с. – 5 экз. 5. Евстигнеев В.В., Горбов М.М., Хомутов О.И. Параметрические первичные измерительные преобразователи. – М.: Высшая школа, 1997. – 181с. – 10 экз. 6. Аш Ж. и соавторы. Датчики измерительных систем.: В 2-ух книгах./Пер. с франц. – М.: Мир, 1992. – 480с. – 15 экз. 7. Лещенко Н.Г. и др. Методы измерения неэлектрических величин.: Учебное пособие . – Томск.: Изд-во ТПИ, 1984. – 95с. – 5 экз. 8. Лукьянов В.Г. Методические указания к лабораторным работам по курсу «Неразрушающие методы контроля технологических процессов». – Барнаул: Изд. АлтГТУ, 2009. – 60с. 9. Лукьянов В.Г. Методические указания к практическим занятиям по курсу «Неразрушающие методы контроля технологических процессов». – Барнаул: Изд. АлтГТУ, 2010. – 62с. 3 3. График контроля Модуль 2 3 2 1-6 Наименование вида Контрольны е испытания работ Лабораторная работа №1 Выполнение и защита Лабораторная работа №2 Выполнение и защита Выполнение Защита контрольной работы Проработка лекций Экзамен Время Вес в проведения итоговом рейтинге 2 недели 0,1 Сессия 0,1 В течение семестра В течение сессии 0,4 0,4 4. Рубежная (семестровая) аттестация студентов Итоговый рейтинг студента по дисциплине рассчитывается (в стобалльном исчислении) согласно Положению о модульно-рейтинговой системе квалиметрии (СМК ОПД 01-19-2008) по формуле: Rдитог=(1-p)Rдсем +pRдэкз(зач) (1) где Rдсем – семестровый предэкзаменационный (предзачётный) рейтинг по данной дисциплине; Rдэкз(зач) – рейтинг рубежного испытания; р – удельный вес экзамена (зачёта). Рекомендуемое значение р=0,5. Все рейтинги в формуле (1). Rдсем определяется с учётом рекомендаций по назначению баллов за посещаемость аудиторных занятий, в соответствии с приказом № 259 от 13.10.2010. 4 Студенты с результатом Rдэкз(зач) ≥25 допускаются к расчёту итогового рейтинга по данной дисциплине в соответствии с формулой (1). Далее выводятся в соответствующих зачётных или экзаменационных ведомостях оценки: Rдитог ≥25 – зачтено; Rдитог <25 – не зачтено; Rдитог <25 – неудовлетворительно; 25≤ Rдитог <50 – удовлетворительно; 50≤ Rдитог <75 – хорошо; 75≤ Rдитог – отлично. Студенты с результатом Rдитог <25, не допущенные к расчёту итогового рейтинга, временно получают отметку «до решения комиссии». Если комиссия по предмету не назначается или назначается, но не понижает значения Rдэкз(зач) для допуска к расчёту итогового рейтинга, студенты, имеющие результат рубежного испытания Rдэкз(зач) <25 и запись в ведомости «до решения комиссии», получают по предмету оценки «не зачтено» и «неудовлетворительно». В случае, когда комиссия назначена и её решением понижен результат до уровня П, студенты с результатом П ≤ Rдэкз(зач) < 25также допускаются к расчёту по формуле (1) и далее по форме (2). Студенты с результатом рубежного испытания Rдэкз(зач) < П получают оценки «не зачтено» и «неудовлетворительно». Следует заметить, что с 1.02.2011 вводится новый порядок вычисления семестрового (предэкзаменационного или предзачётного) рейтинга по любой дисциплине: Rсем =0,9R+БП, где R – текущий рейтинг на конец семестра, вычисленный по результатам контрольных точек; БП – дополнительные баллы за посещаемость занятий, определённые по следующее схеме: П≤50% – БП=0; 50%< П≤60% – БП=2; 60%< П≤70% – БП=4; 70%< П≤80% – БП=6; 80%< П≤90% – БП=8; 90%< П≤100% – Бп=10. Студентам могут дать право на два дополнительных рубежных испытания. Сроки рубежных испытаний могут устанавливаться с учётом приказа ректора. 5. Возможности повышения рейтинга Для студентов, имеющих высокий рейтинг и занимающихся исследованиями и решениями задач с оценкой К+ по теме рейтинг пересчитывается с RТ до RТ+: RТ+= RТ+((100- RТ)( R+-50))/100. 5 6