Нанотехнологии и микросистемная техника

Требования к государственно аттестации бакалавров по направлению
28.03.01 Нанотехнологии и микросистемная техника
ГОСУДАРСТВЕННЫЙ ЭКЗАМЕН ПО НАПРАВЛЕНИЮ ПОДГОТОВКИ
28.03.01 Нанотехнологии и микросистемная техника
В соответствии с решением Ученого совета физического факультета ЮФУ
государственный экзамен по направлению подготовки 28.03.01 Нанотехнологии и
микросистемная техника включен в состав итоговой государственной аттестации.
Целью проведения итогового государственного экзамена является проверка знаний,
умений, навыков и личностных компетенций, приобретенных выпускником при изучении
учебных циклов основной образовательной программы (ООП) в соответствии с
требованиями стандарта ЮФУ, ФГОС ВО и требованиями к результатам освоения ООП
вуза по направлению подготовки.
Требования к содержанию и процедуре проведения государственного экзамена
по направлению 28.03.01 Нанотехнологии и микросистемная техника
требования к содержанию:
- комплексность экзаменационных вопросов и заданий, которые должны включать
разделы из различных учебных циклов;
- компетентностный подход к составлению вопросов и заданий для контролирования
владения компетенциями - как
универсальными, так и профессиональными и
специальными;
- полнота представления в экзаменационных вопросах содержания базовой части
цикла профессиональной.
требования к процедуре проведения государственного экзамена:
- порядок проведения государственных экзаменов разработан факультетом на
основании
"Положения об итоговой государственной аттестации выпускников высших учебных
заведений Российской Федерации", утвержденном Приказом Министерства образования
РФ от 25 марта 2003 г. № 1155.
- порядок проведения государственных экзаменов доводится до сведения студентов
всех форм обучения не позднее, чем за полгода до начала итоговой государственной
аттестации;
- программа государственного экзамена доводится до сведения студентов не позднее,
1
чем за полгода до начала итоговой государственной аттестации;
- перед государственным экзаменом проводится цикл консультаций по программе
экзамена;
- на подготовку к государственному экзамену отводится 7 – 10 дней;
- государственный экзамен проводится в устной форме;
- государственный экзамен проводится по билетам, составленным и утвержденным
УМК факультета. Варианты экзаменационных билетов хранятся в запечатанном виде и
выдаются студентам непосредственно на экзамене;
-в ходе экзамена студенты могут пользоваться учебными программами и (с
разрешения Государственной аттестационной комиссии) справочной литературой и
другими пособиями;
- индивидуальное экзаменационное задание включает два вопроса;
- время, отводимое на подготовку студента к ответу на поставленные вопросы,
должно быть не менее одного часа и не более трех часов (после получения билета);
- после окончания экзамена на каждого студента каждый член ГАК заполняет
протокол с предложениями по оценке ответа на каждое экзаменационное задание, а также
оценке степени соответствия подготовленности выпускника требованиям стандарта
ЮФУ ВПО по направлению Нанотехнологии и микросистемная техника;
- окончательное решение по оценкам определяется открытым голосованием
присутствующих на экзамене членов ГАК, при равенстве голосов решение остается
за председателем ГАК, результаты обсуждения заносятся в протокол;
- результаты сдачи государственного экзамена объявляются в день его проведения.
-в случае получения на государственном экзамене неудовлетворительно оценки
повторный экзамен назначается не раньше, чем через три месяца и не более, чем через
пять лет после прохождения итоговой государственной аттестации;
- повторные итоговые экзаменационные испытания не могут назначаться более двух
раз;
-лицам, не проходившим итоговые аттестационные испытания по уважительной
причине
(по
медицинским
подтвержденных
аттестационные
показаниям
документально)
испытания
без
и
в
других
предоставляется
отчисления
из
исключительных
возможность
вуза.
Для
пройти
этого
случаях,
итоговые
организуются
дополнительные заседания государственных аттестационных комиссий в сроки, не
позднее четырех месяцев после подачи заявления лицом, не проходившим итоговых
аттестационных испытаний по уважительной причине.
2
ПРОГРАММА
государственного экзамена по направлению
28.03.01 Нанотехнологии и микросистемная техника
1. Квантовая механика
1. Операторы. Собственные функции и собственные числа оператора. Эрмитовы
операторы.
Ортогональность
собственных
функций
эрмитова
оператора
и
действительность его собственных чисел. Нормировка собственных функций
эрмитова
оператора.
Полнота
набора
собственных
функций.
Дираковские
обозначения.
2. Волновые функции. Чистые и смешанные состояния. Физический смысл волновой
функции. Принцип суперпозиции состояний.
Среднее значение физической
величины.
3. Конкретный вид квантовомеханических операторов. Операторы координаты и
импульса микрочастицы Оператор момента импульса микрочастицы. Оператор
Гамильтона. Стационарное уравнение Шредингера. Перестановочное соотношение
для операторов
координаты и импульса. Условия возможности одновременного
измерения разных механических величин. Коммутирующие операторы и их
собственные функции.
4. Конечная потенциальная яма. Дискретный и непрерывный спектры значений энергии.
Резонансы.
5. Вероятность прохождения микрочастицей потенциальной ямы конечной глубины.
6. Прохождение прямоугольного потенциального барьера. Коэффициент прозрачности
потенциального барьера.
7. Конечный потенциальный барьер произвольной формы. Туннельный эффект.
Физические явления, объясняемые туннелированием частиц.
8. Гармонический
осциллятор. Четность. Решение задачи о гармоническом
осцилляторе.
9. Движение в поле центральной силы. Операторы момента количества движения
частицы Собственные функции и собственные числа оператора
z-компоненты
момента количества движения.
3
10. Собственные функции и собственные чиста оператора квадрата момента количества
движения. Пространственное квантование.
11. Сферически симметричная прямоугольная потенциальная яма конечной глубины
(квантовая точка).
12. Движение в кулоновском поле. Спектр и волновые функции атома водорода.
Движение электрона в одновалентных атомах.
13. Изменение состояния во времени. Полное
уравнение
Шредингера. Вероятностная
интерпретация временной волновой функции.
14. Теория возмущений. Постановка задачи теории возмущений. Возмущение в
отсутствие
вырождения.
Простейшие
приложения
теории
возмущений.
Энергетический спектр и волновые функции частицы в одномерной потенциальной
яме непрямоугольной формы.
15. Вариационный метод.
Рекомендуемая литература
1.
Ландау А.Д., Лифшиц Е.М. Квантовая механика. М: Наука, 1983 г.
2. Физика конденсированного состояния
1. Трансляционная инвариантность в кристаллах. Векторы трансляции. Решетка Бравэ.
2. Элементарная ячейка. Примитивная ячейка. Ячейка Вигнера-Зейтца. Возможные
элементы симметрии решетки Бравэ. Сингонии.
3. Элементы
симметрии
кристаллической
решетки.
Кристаллические
классы.
Пространственные группы.
4. Плотные упаковки. Коэффициент упаковки. Атомные структуры кристаллов. С
(алмаз, графит), Si, NaCl, BaTiO3.
5. Обратная решетка и ее свойства. Зоны Бриллюэна.
6. Малые колебания атомов около узлов кристаллической решетки. Одномерная атомная
цепочка. Свойства закона дисперсии. Нормальные колебания.
7. Нормальные колебания в одномерной двухатомной цепочке. Свойства законов
дисперсии для акустической и оптической ветвей.
8. Решение задачи о малых колебаниях решетки в общем случае. Определение числа
акустических и оптических ветвей. Условие Борна-Кармана.
4
9. Полная энергия решеточного возбуждения кристалла. Фононы.
10. Решеточная теплоемкость кристалла. Высокотемпературный и низкотемпературный
пределы. Модели Эйнштейна и Дебая.
11. Электроны в кристалле. Одноэлектронное приближение. Теорема Блоха. Блоховские
функции.
12. Приближение сильной связи. Число веток закона дисперсии в приближении сильной
связи.
13. Приближение слабой связи. Метод псевдопотенциала.
14. Зонная структура твердых тел (диэлектрики, полупроводники, металлы). Поверхность
Ферми.
15. Распределение Ферми-Дирака. Электронные и дырочные состояния. Электронная
теплоемкость кристаллов.
16. Электронная
структура
полупроводников.
Эффективная
масса.
Донорные
и
акцепторные примеси.
17. Функция плотности состояний в системах различной размерности.
Рекомендуемая литература
1. Киттель Ч. Введение в физику твердого тела. М: Наука, 1978.
2. Ашкрофт Н., Мермин Н. Физика твердого тела. М. 1979.
3. Павлов П.В., Хохлов А.Ф. Физика твердого тела. М: ВШ, 1997.
3. Материаловедение наноструктурированных материалов
1. Дефекты кристаллической решетки. Точечные и протяженные дефекты. Дефекты по
Френкелю и по Шоттки. Типы дислокаций. Вектор Бюргерса.
2.
Термодинамическое описание поверхности твердых тел. Свободная энергия Гиббса.
Свободная энергия Гельмгольца. Химический потенциал. Энтропия.
3.
Поверхностное натяжение. Анизотропия поверхностного натяжения. Поверхностная
энергия.
4.
Поверхностные процессы. Физическая и химическая адсорбция. Силы Ван дер
Ваальса. Примесные атомы на поверхности.
5
5.
Реальная
поверхность
твердых
тел.
Атомные
и
молекулярные
орбитали.
Гибридизация. Зонная электронная структура твердого тела.
6.
Реконструкция и релаксация поверхности.
7.
Поверхность и поверхностные наноструктуры. Методы исследования поверхности.
Процессы на поверхности и роль приповерхностных фаз в этих процессах. Десорбция.
8.
Гетеродиффузия
и
формирование
поверхностных
фаз.
Методы
получения
поверхностных наноструктур. Соадсорбция двух типов атомов и трехкомпонентные
поверхностные фазы. Формирование двухкомпонентных и трехкомпонентных
поверхностных фаз.
9.
Фазовые диаграммы – основа направленного синтеза наноструктурированных
материалов. Термодинамика Гиббса и термодинамика Ландау. Основные понятия
термодинамики Гиббса. Обзор фазовых диаграмм.
10. Условия равновесия фаз и уравнения границ фазовых полей. Критическая точка.
Применение фазовых диаграмм для предсказания микроструктуры материалов.
Размерные эффекты в физике и химии гетерогенных систем.
11. Границы раздела. Граница раздела металл – полупроводник. Граница раздела
диэлектрик – полупроводник.
12. Нанокластеры
металлов.
Остовная
изомерия
малых
металлических
частиц.
Кластерные соединения. Молекулярные кластеры. Особые свойства атомных
кластеров. Методы получения кластеров труднолетучих соединений. Методы
стабилизации нанообъектов.
13. Фуллерены:строение и номенклатура. Физические свойства. Химические свойства.
Методы получения фуллеренов. Фуллереноподобные вещества.
14. Строение простейших нанотрубок
и наноконусов. Морфологические формы
нитевидных углеродных наночастиц. Физические свойства углеродных нанотрубок.
Методы синтеза углеродных нанотрубок и нановолокон.
15. Ультрадисперсные системы. Синтез и стабилизация наночастиц в растворах.
Дисперсные системы. Методы нанодиспергирования компактного материала. Методы
химической конденсации.
16. Образование мицеллярных систем. Формирование наночатиц в микроэмульсиях ПАВ.
Организация и самоорганизация коллоидных структур. Золь–гель технологии синтеза
наночастиц.
6
Рекомендуемая литература
1.
Суздалев И.П. Нанотехнология: физико-хиия нанокластеров, наноструктур и
наноматериалов. – М.: КомКнига, 2006. – 592 с.
2.
Гусев А.И. Наноматериалы, наноструктуры, нанотехнологии. – М.: Физматлит, 2005.
– 416 с.
3.
Зенгуил Э. Физика поверхности. М.: Мир, 1990.
4.
Бехштетдт Ф., Эндерлайн Р., Поверхности и границы раздела полупроводников. М.:
Мир. 1990.
5.
Шаскольская М.П., Кристаллография М.: Высшая школа. 1976
6.
Раков Э.Г. Нанотрубки и фуллерены. М.: Логос. 2008.
7.
Таланов В.М. Ерейская Г.П. Юзюк Ю.И. Введение в химию и физику наноструктур и
наноструктурированных материалов. Москва: Академия Естествознания. 2008.
4. Методы анализа и контроля наноструктурированных материалов и
систем.
1.
Принципы работы сканирующего зондового микроскопа (СЗМ). Сканирующие
элементы. Устройства для прецизионных перемещений зонда и образца.
2.
Формирование и обработка СЗМ изображений. Нормирование изображения.
Устранение
искажений,
фильтрация,
усреднение.
Методы
восстановления
поверхности по СЗМ изображению.
3.
Сканирующая туннельная микроскопия (СТМ). Основы СТМ. Зонды для СТМ.
Измерение работы выхода (ВАХ) в СТМ. Измерение ВАХ туннельного контакта.
4.
Атомно-силовая микроскопия (АСМ). Основы АСМ. Зондовые датчики АСМ.
Контактная АСМ. Колебательные методики АСМ.
5.
Конфокальная оптическая микроскопия. Ближнепольная оптическая микроскопия.
6.
Люминесцентная
флуоресценции
спектрофотометрия.
и
фосфоресценции.
Типы
люминесценции.
Релаксационные
каналы
Происхождение
возбужденного
состояния. Стоксова и антистоксова люминесценция. Закон Стокса.
7.
Рэлеевское и комбинационное рассеяние света. Упругое рассеяние света. Уравнение
Рэлея.
Классическое
объяснение
комбинационного
рассеяния
света.
Тензор
поляризуемости. Оптическая схема двойного монохроматора.
7
8.
Источники
и
приемники
инфракрасного
излучения.
Схема
двухлучевого
спектрофотометра. Природа ИК спектров. Сравнение спектров ИК поглощения и
комбинационного рассеяния.
9.
Дифракция рентгеновских лучей. Уравнения Лауэ и закон Брэгга. Отражающая
плоскость. Ограничивающая сфера и сфера отражения. Векторное представление
закона Брэгга. Разрешенные и запрещенные дифракционные рефлексы.
10. Геометрия
Брэгга-Бретано.
Порошковая
дифракция.
Факторы,
определяющие
интенсивность рефлексов. Дифракция электронов.
11. Электронная микроскопия. Конструкция и характеристики основных блоков
просвечивающего
и
растрового
электронного
микроскопа.
Электромагнитная
фокусировка.
12. Контрастность изображения в просвечивающем микроскопе. Дифракционный
контраст.
13. Неупругое рассеяние и поглощение энергии в растровом микроскопе. Создание
изображения характеристическим рентгеновским излучением. Вторичные электроны.
Факторы, влияющие на вторичную эмиссию.
14. Микроанализ по рентгеновским спектрам в растровом микроскопе.
15. Масс-спектроскопия.
Принципиальная
схема
масс-спектрометра.
Разрешающая
способность и относительная чувствительность. Фокусировка потока заряженных
частиц магнитным и электрическим полями. Основные типы масс-анализаторов.
16. Измерение магнитных свойств вещества. Типы магнитных материалов. Метод Гуи.
Электродинамические
весы
Фарадея.
Индукционный
метод.
Вибрационный
магнетометр Фонера. SQUID магнетометры.
17. Спектры магнитного резонанса. Электронный парамагнитный резонанс: физические
основы и техника измерений. Ядерный магнитный резонанс: физические основы и
техника измерений. Химический сдвиг.
Рекомендуемая литература
1.
Миронов В.А. Основы сканирующей зондовой микроскопии, М.: Техносфера, 2004.
2.
Кларк Э.Р., Эберхардт К.Н. Микроскопические методы исследования материалов. М.:
Техносфера, 2007. 376 с.
3.
Пентин Ю.А., Курамшина Г.М.. Основы молекулярной спектроскопии. М. Мир
8
БИНОМ 2008 г. 398 с.
4.
Физические
методы исследования
неорганических
веществ.
Под.
ред.
А.Б.
Никольского, М.: Академiа, 2006. 444 с.
5. Брандон Д., Каплан У. Микроструктура материалов. Методы исследования и контроля.
М.: Техносфера. 2004, 384 с.
6. Синдо Д., Оикава Т. Аналитическая просвечивающая электронная микроскопия для
материаловедения. М.: Техносфера, 2005. 256 с.
7. Эгертон Р.Ф. Физические принципы электронной микроскопии. М.: Техносфера. 2010.
300 с.
9
ВЫПУСКНАЯ КВАЛИФИКАЦИОННАЯ РАБОТА БАКАЛАВРА
Согласно "Положению об итоговой государственной аттестации выпускников
высших учебных заведений Российской Федерации" выпускные квалификационные
работы выполняются в формах, соответствующих определенным ступеням высшего
профессионального образования: для квалификации (степени) бакалавр - в форме
бакалаврской работы.
Общие требования к форме и цели выполнения выпускной квалификационной работы
соответствуют государственному образовательному стандарту в части требований к
минимуму содержания, уровню подготовки и итоговой аттестации выпускников.
Требования к содержанию выпускных работ, их структуре, формам представления
и объемам
определяются методическими указаниями, которые разрабатываются
факультетами применительно к соответствующим направлениям образования
Требования к содержанию, объему и структуре выпускных квалификационных
работ бакалавров
Темы
выпускных
квалификационных работ
определяются высшим
учебным
заведением. По своему назначению, срокам подготовки и содержанию выпускная работа
бакалавра является учебно-квалификационной. Она предназначена для выявления
подготовленности
выпускника к продолжению образования по образовательно-
профессиональной программе следующей ступени и выполнению профессиональных
задач на уровне требований государственного образовательного стандарта в части,
касающейся минимума содержания и качества подготовки. Выпускная работа должна
быть связана с разработкой конкретных теоретических или экспериментальных вопросов,
являющихся частью научно-исследовательских,
учебно-методических и других работ,
проводимых кафедрой.
Выпускная работа бакалавра должна является результатом разработок, в которых
выпускник принимал непосредственное участие. При этом в выпускной работе должен
быть отражен личный вклад автора в используемые в работе результаты.
Темы выпускных квалификационных работ определяются выпускающей кафедрой:
как правило, тему
может
работы предлагает научный руководитель студента, тема работы
быть рекомендована организацией, в которой студент проходил практику.
Студент может самостоятельно предложить тему работы, обосновав целесообразность
выбора и актуальность разработки.
По решению кафедры в качестве выпускной работы бакалавра могут быть приняты
10
статьи, опубликованные или подготовленные лично студентом, а также научные доклады,
представленные выпускником на студенческих конференциях, конференциях молодых
ученых и т.п. Как исключение в качестве выпускных работ могут приниматься работы,
имеющие реферативный характер, однако содержание такой работы должно в
обязательном
порядке
включать
обобщения
и
новые
выводы,
разработанные
непосредственно автором.
Темы выпускных квалификационных работ бакалавров утверждаются приказом
ректора ЮФУ. Научным руководителем работы, как правило, назначается один из
преподавателей выпускающей кафедры. Состав научных руководителей утверждается
приказом ректора ЮФУ.
Выпускная
квалификационная
работа
бакалавра
содержит
в
указанной
последовательности следующие структурные элементы:
- титульный лист;
- реферат;
- оглавление;
- введение;
- обзор научной литературы по избранной проблематике;
- характеристику объекта исследования;
- характеристику методики исследования;
- описание полученных результатов;
- обсуждение результатов;
- заключение (выводы);
- список использованной литературы.
По усмотрению автора выпускной квалификационной работы в состав работы могут
быть
включены перечень сокращений, условных обозначений, символов, единиц и
приложение (приложения).
Работа должна содержать достаточное для восприятия
результатов количество иллюстративного материала в виде карт, схем, рисунков и т.п
Титульный лист
Титульный лист является первой страницей выпускной квалификационной работы.
На титульном листе указывается название министерства, наименование высшего
учебного заведения, факультета, кафедры, инициалы, фамилия, курс обучения и форма
обучения студента, а также ученая степень и звание, инициалы и фамилия научного
руководителя работы. На титульном листе указывается также город и год выполнения
работы.
Реферат
11
Реферат - сокращенное изложение содержания работы с основными фактическими
сведениями и выводами. Реферат начинается со сведений об объеме работы, количестве
иллюстраций, таблиц, приложений, количестве использованных источников. Текст
реферата должен включать:
- сведения о задачах, предмете, целях и методах исследования, об основных
результатах работы;
- краткие выводы, касающиеся особенностей, новизны, эффективности, возможности
и области применения работы.
В конце реферата приводят перечень ключевых слов, который включает от 5 до 15
слов или словосочетаний из текста, в наибольшей мере характеризующих содержание
работы.
Оглавление
В
оглавлении последовательно указываются заголовки элементов выпускной
работы, разделов, подразделов, а также номера страниц, на которых размещается начало
материала.
Заголовки
элементов
работы,
разделов,
подразделов
должны
точно
соответствовать заголовкам текста.
Перечень сокращений, условных обозначений, символов, единиц.
В выпускных квалификационных работах допустимо использование сокращений (в
том числе акронимных и аббревиатурных), условных обозначений, символов, единиц.
При использовании сокращений
их перечень размещается сразу после содержания
работы.
Введение
В этом разделе обосновывается выбор темы и ее актуальность, характеризуется
связь с предшествующими исследованиями, показывается ее теоретическая
и
практическая значимость, четко формулируется цель исследования, подчеркивается
особенность и место данной работы в общем исследовании проблемы. Необходимо
также указать место и время проведения исследований, источники получения основных
материалов (самостоятельные
исследования
или данные получены из
каких-либо
организаций) и перечислить лиц, которые в той или иной форме принимали участие
в работе или содействовали ее выполнению.
Обзор научной литературы по избранной проблематике
В этом разделе кратко освещается современное состояние проблемы, дается
критический анализ существующих
вопросу. Обзор литературы
значимости
исследований,
взглядов и представлений по рассматриваемому
должен подвести к
выполненных
автором
пониманию
выпускной
необходимости и
работы.
Обзор
12
литературы
должен
быть
кратким,
но по
возможности
охватывающим
всю
литературу, непосредственно относящуюся к теме исследования, опубликованную в
отечественных и зарубежных изданиях, а также материалы, представленные в других
информационных источниках.
Характеристику объекта исследования
В этом
разделе
выпускной
работы
необходимо
охарактеризовать
объект
исследования, привести сведения о количестве исследованных образцов и методов их
получения, о количестве обработанного экспериментального материала, о количестве
экспериментов и методике их анализа.
Характеристику методики исследования
В этом разделе описывается постановка эксперимента или
исследований. При использовании
сложных многоэтапных
методика проведения
методик
рекомендуется
составление схемы (схем) опытов, которая наглядно представляет последовательность
отдельных
этапов работы. В этом же разделе работы приводятся сведения о
примененных методах математического анализа экспериментальных данных.
Описание полученных результатов
В этом разделе приводится первичный материал, полученный в ходе наблюдений
или
экспериментов, а также результаты его обобщения. Изложение
результатов
исследования следует снабдить фотографиями, таблицами, графиками и т.п. Достаточно
обширные количественные данные необходимо статистически обработать и привести
показатели, характеризующие достоверность обнаруженных результатов.
Изложение
результатов исследования может состоять из нескольких подразделов, число и название
которых специфично для каждой работы.
Обсуждение результатов исследований
Данный раздел работы является одним из важнейших: он должен показать умение
автора работы не только собрать факты, но и правильно их оценить. Следует сопоставить
собственные данные с литературными, подчеркнуть новое в научном материале, выявить
новые закономерности или подтвердить уже известные, но требующие дополнительных
подтверждений. Обсуждение не должно быть словесным повторением результатов. При
обсуждении
необходимо четко отделить
собственные данные от литературных, с
которыми они сопоставляются. Всякое исследование, решая одни задачи, ставит новые,
поэтому в обсуждении можно указать нерешенные проблемы или выдвинуть гипотезы.
В
конце этого раздела необходимо дать оценку научного и практического значения
полученных результатов.
13
Суммарный объем части работы, описывающий собственные результаты автора, для
выпускной работы бакалавра рекомендуется в размере 25%
Заключение (выводы)
Заключение выпускной работы должно содержать выводы, отражающие основные
итоги проделанной работы. Выводы содержат то новое, что удалось установить в итоге
работы, а также перспективы практического применения полученных экспериментальных
или теоретических результатов.
Список использованных источников
В
конце выпускной
работы
бакалавра приводится список литературных
и
информационных источников, которые были использованы при написании работы.
Приложение
В разделе "Приложение" рекомендуется представить материал, который может
загромождать текст основной части выпускной работы, но вместе с тем - необходимый
для
более полного освещения условий, методов
и
результатов
материалом могут быть, например, описание приборов,
наблюдений и опытов, протоколы опытов, акты
работы.
условий
испытаний,
Таким
проведения
промежуточные
математические расчеты, иллюстрации вспомогательного характера и т.п.
Объем работы
Объем работы не может быть строго регламентирован, он определяется задачами
исследования, характером и объемом собранного материала. Можно указать, что, как
правило, объем выпускной работы бакалавра составляет 40-50 страниц.
Порядок защиты выпускной квалификационной работы бакалавра
Защита выпускной квалификационной работы бакалавра проводится на заседании
ГАК и служит одним
из оснований для
решения
ГАК о присуждении
студенту
соответствующей квалификации.
В учебных планах всех уровней обучения (в соответствии с Государственными
образовательными стандартами) представлена особая часть графика учебного процесса
- "итоговая
государственная
квалификационной
аттестация, включая подготовку и защиты выпускной
работы". Эта часть
графика
учебного процесса приходится на
завершающий семестр обучения (для бакалавра - восьмой)
Полностью завершенная выпускная
автором
работы
и
научным
выпускающей кафедры,
квалификационная
руководителем,
а
также
работа подписывается
визируется
заведующим
который на титульном листе делает пометку "к
защите
допускаю" и подписывается.
14
Научный
руководитель
представляет
на кафедру
отзыв о студенте – авторе
выпускной квалификационной работе бакалавра. Отзыв руководителя должен состоять
из двух частей: в первой
части
студента, во второй - выражает
руководитель оценивает уровень компетентности
собственную оценку соискателя, отмечая
степень
самостоятельности, характеризуя научную и практическую деятельность студента, в
том числе - наличие публикаций и выступлений на конференциях.
Защита
заседании
выпускной
ГАК
квалификационной
работы
бакалавра
проводится
на
(при условии присутствия не менее 2/3 состава комиссии) в
присутствии руководителя, и преподавателей кафедры. Процедура защиты выпускной
квалификационной
работы
включает
доклад
студента
вопросы
и
замечания
присутствующих и ответы студента на них, отзыв научного руководителя, и ответ
студента на замечания рецензента, заключительное слово студента.
Продолжительность защиты, как правило, не должна превышать 40 минут, причем на
доклад выпускника отводится не более 20 минут.
При
оценке
работы
Государственная
Аттестационная
Комиссия
учитывает
теоретическое и прикладное значение работы, качество ее оформления, умение студента
изложить результаты исследования, его ответы на вопросы и критические замечания
рецензента, членов комиссии, присутствующих.
Результаты защиты выпускных квалификационных работ определяются оценками
5" ("отлично"), "4" ("хорошо"), "3" ("удовлетворительно"), "2" ("неудовлетворительно").
При определении результатов защиты Государственная Аттестационная Комиссия
оценивает обоснование выбора темы исследования, актуальность и научную новизну
поставленной
задачи,
полноту обзора литературы, обоснование
выбора
методик
исследования, логичность и аргументированность изложения полученных результатов,
полноту
анализа
и
обсуждения
полученных
результатов,
достоверность
и
обоснованность выводов, качество иллюстративного материала. Решение о результатах
защиты выпускной квалификационной работы принимается на закрытом заседании
Государственной Аттестационной Комиссии большинством голосов. При равенстве
голосов голос председателя Государственной Аттестационной Комиссии является
решающим. Результаты защиты выпускных квалификационных работ объявляются в
день защиты после оформления протоколов заседания ГАК.
Студентам, успешно сдавшим государственные экзамены и защитившим выпускную
квалификационную
присваивается
работу, решением Государственной Аттестационной Комиссии
квалификация в соответствии с направлением и выдается диплом
установленного образца.
15
Повторная защита выпускной квалификационной работы с целью повышения оценки
не допускается.
Студенты, получившие на защите выпускной работы неудовлетворительную оценку
отчисляются из университета. В этом случае студентам (по их заявлению) может быть
выдан диплом о неполном высшем образовании
Студенты, получившие на защите выпускной работы неудовлетворительную
оценку, могут по их заявлению быть допущены приказом ректора ЮФУ к повторной
защите в течение 5 лет после отчисления. Повторная защита разрешается не ранее
наступления следующего календарного года с началом работы ГАК.
Студентам, не защитившим выпускную работу по уважительным причинам
(документально подтвержденным) приказом ректора устанавливается индивидуальный
срок защиты (сдачи государственного экзамена).
16