ФЕДЕРАЛЬНОЕ АГЕНТСТВО ПО ОБРАЗОВАНИЮ Федеральное государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования «ЮЖНЫЙ ФЕДЕРАЛЬНЫЙ УНИВЕРСИТЕТ» Тополов В.Ю. Криворучко А.В. МЕТОДИЧЕСКИЕ УКАЗАНИЯ «Элементы тензорного анализа в курсе физики твердого тела» для студентов физического факультета Ростов-на-Дону 2007 Методические указания разработаны доктором физико-математических наук, профессором кафедры физики полупроводников В.Ю. Тополовым и аспирантом кафедры физики полупроводников А.В. Криворучко Компьютерный набор и полупроводников А.В. Криворучко верстка аспиранта кафедры физики Печатается в соответствии с решением кафедры физики полупроводников физического факультета ЮФУ (протокол N 41 от 26 июня 2007 г.) 2 ВВЕДЕНИЕ В последние десятилетия методы векторного и тензорного анализа активно используются при изложении курса физики твердого тела, при анализе особенностей физических свойств твердых тел, а также при описании анизотропии их физических свойств. Известно, что физические свойства твердых тел описываются скалярными, векторными или тензорными величинами. В кристалле, например, векторы воздействия и явления в общем случае не совпадают по направлению, а связь между этими векторами тесно связана с симметрией кристалла и анизотропией физического свойства. Cвязь между явлением (эффектом), воздействием и физическим свойством определяется символической формулой Явление = Физическое свойство Воздействие. При количественном описании физического свойства важную роль играет выбор ориентации осей системы координат. Переход от одной системы координат к другой приводит к изменениям количественных характеристик кристалла, и эти изменения описываются с помощью тензоров. В настоящих методических указаниях приводятся основные сведения о тензорах, рассматриваются свойства тензоров второго ранга, примеры тензорных физических величин, а также примеры решения задач по тензорной тематике. Навыки, приобретенные студентами при изучении и использовании представленных методических указаний, должны способствовать эффективному применению элементов тензорного анализа в курсе физики твердого тела, при решении ряда задач и при изложении других спецкурсов для студентов, обучающихся по специальности «Микроэлектроника и твердотельная электроника». 1 ПОНЯТИЕ ТЕНЗОРА. ЗАКОН ПРЕОБРАЗОВАНИЯ КОМПОНЕНТ ТЕНЗОРА Как известно из курса физики, скаляр имеет одну компоненту, а вектор – три. В любой системе координат для полного описания скаляра достаточно использовать одно число, а для описания вектора – три числа. Однако многие 3 физические величины не удается описать введением одного или трех чисел. Экспериментально установлено, что для описания деформации упругих тел в 2 некоторой точке P(x1 , x2 , x3) необходимо ввести 3 = 9 чисел, а для описания 4 упругих свойств анизотропных тел – 3 = 81 число. В связи с этим возникла потребность введения новых математических объектов, представляющих собой n совокупности 3 компонент (n = 0; 1; 2;...) и преобразующихся по определенным правилам при переходе от одной системы координат к другой. Все эти компоненты характеризуются одинаковой размерностью и «участвуют» в однотипных соотношениях, связывающих различные физические величины. Такие объекты называются т е н з о р а м и, а ранг тензора n n определяет общее число компонент (3 ). Отметим, что компоненты тензора могут иметь различные значения в разных системах координат. Однако в связи с тем, что каждый раз эти компоненты в совокупности определяют одну и ту же физическую величину, закон преобразования компонент при изменении системы координат должен быть тесно связан с природой рассматриваемой физической величины. Произвольность выбора системы координат является экспериментально установленным фактом и отражает однородность пространства. Равноправность любой ориентации осей координат также подтверждена многочисленными экспериментами и отражает изотропность пространства. Законы преобразования компонент тензоров ранга от нулевого по четвертый включительно при преобразовании осей прямоугольной декартовой системы координат (X1X2X3) → (X1′X2′X3′) представлены в таблице 1. Обобщая вышеизложенное, можно дать следующее определение тензора n-го ранга. Тензор n-го ранга – это величина, определяемая в декартовой системе n координат (X1X2X3) совокупностью 3 чисел или функций Aik...r (число нижних индексов равно n), которые при изменении системы координат (X1X2X3) → (X1′X2′X3′) преобразуются по закону 3 Aik...r = 3 3 ... s 1 t 1 w 1 lislkt... lrw Ast...w , где lis = cos (OXi, ^ OXs) – косинус угла между i-й осью системы координат (X1′X2′X3′) и s-й осью осью системы координат (X1X2X3). 4 Таблица 1 – Преобразование компонент тензора n-го ранга (n = 0; 1: 2; 3; 4) Тензор и его ранг n Число компонент тензора Закон преобразования компонент тензора n-го ранга Скаляр, n = 0 30 = 1 α' = α Вектор, n = 1 31 = 3 3 ai ' = l ik a k (Т1) k 1 Тензор второго ранга, n = 2 32 = 9 Тензор третьего ранга, n = 3 33 = 27 Тензор четвертого ранга, n = 4 34 = 81 3 3 bij' = l ik l jm bkm k 1 m 1 3 3 cijk' = m 1 p 1 3 (Т2) 3 l q 1 3 dijkm' = p 1 q 1 l l c im jp kq mpq 3 (Т3) 3 l r 1 s 1 l l l d pqrs (Т4) ip jq kr ms Примечания: 1 lik = cos(OXi', ^ OXk) – направляющие косинусы. Первый нижний индекс i относится к оси штрихованной (новой) системы координат. 2 В соответствии с правилом Эйнштейна суммирование от 1 до 3 проводится по повторяющимся индексам k (n = 1; 2), m (n = 2; 3), р, q (n = 3; 4), r и s (n = 4). 2 СВОЙСТВА ТЕНЗОРОВ ВТОРОГО РАНГА Тензоры второго ранга – это величина, определяемая в любой системе координат девятью числами или функциями, которые при изменении системы координат преобразуются по формуле (Т2). Тензор второго ранга А удобно представлять в виде матрицы размером 3 × 3, т.е. 5 A11 || Aik || = A21 A 31 A12 A22 A32 A13 A23 . A33 Свойства тензора А эквивалентны свойствам квадратной матрицы || Aik ||, построенной из компонент этого тензора, и эти свойства можно сформулировать следующим образом. а) Тензор А является симметричным, если для любых индексов i и k справедливо равенство Aik = Аki. б) Тензор В является антисимметричным, если для любых индексов i и k справедливо равенство Bik = – Bki. в) Произвольный тензор второго ранга С можно представить в виде суммы симметричного А и антисимметричного В тензоров: Cik = Aik + Bik , где Aik = (Cik+ Cki) / 2, Bik = (Cik – Cik) / 2. г) Если для тензора А существуют векторы х, удовлетворяющие условию Ах = λх, то направления, определяемые этими векторами, называются главными (собственными) направлениями тензора А. Оси этих направлений называются главными осями тензора. Значения компонент тензора в системе координат главных осей называются главными значениями тензора (обозначены λ). Итак, система уравнений, из которой находятся главные направления и главные значения тензора А, в матричной форме имеет вид A11 A21 A 31 A12 A22 A32 A13 x1 x1 A23 x 2 = λ x 2 . x A33 x3 3 Эта система линейных однородных уравнений относительно координат xi имеет ненулевое решение, если det || A – λ I || = 0, (1) где I - единичная матрица (3 × 3). Таким образом, главные значения λ определяются из характеристического уравнения тензора А A11 A21 A12 A22 A13 A23 A31 A32 A33 = 0, (2) 6 являющегося кубическим уравнением относительно λ. В системе главных осей (Х1°Х2°Х3°) тензор А записывается в матричном виде как 1 ||Aik|| = 0 0 0 2 0 0 0 , 3 (3) причем три главных оси OXi° этого тензора взаимно перпендикулярны. Если λ1 = λ2 = λ3, тензор называется шаровым. Такой тензор пропорционален единичному (т.е. выполняется условие А = λi I) и имеет одинаковый вид во всех системах координат. Если два главных значения тензора одинаковы, а третье отлично от них (например, λ1 = λ2 ≠ λ3) , то тензор называется симметрическим. Если все три главных значения тензора различны, то тензор называется асимметрическим. Интерпретация тензор второго ранга может быть дана при проведении слелующей геометрической аналогии. Центральная поверхность второго порядка с центром в начале O(0; 0; 0) прямоугольной системы координат (X1X2X3) описывается уравнением 3 S i , j 1 ij xi xj = 1, (4) причем коэффициенты Sij подчиняются условию Sij = Sji. В новой системе координат (X1′X2′X3′) уравнение (4) принимает вид 3 S k ,m 1 km ′ xk′ xm′ = 1, 3 где коэффициенты Skm′ = lkilmjSij преобразуются по формуле, аналогичной i , j 1 формуле (Т2) из таблицы 1. Компоненты симметричного тензора второго ранга преобразуются при переходе из системы координат (X1X2X3) в (X1′X2′X3′) подобно коэффициентам Sij из уравнения (4). Для симметричного тензора второго ранга можно ввести х а р а к т е р и с т и ч е с к у ю п о в е р х н о с т ь – поверхность второго порядка с коэффициентами, равными компонентам тензора. Как показано выше, симметричный тензор второго ранга приводится к главным осям (см. формулу (3)), а соответствующая ему характеристическая поверхность задается уравнением 7 λ1 x12 + λ2 x22 + λ3 x32 = 1. (5) Уравнение (5) легко приводится к канонической форме (x1 / a1)2 + (x2 / a2)2 + (x3 / a3)2 = 1. (6) Если в матрице (3) все λi > 0, то поверхность, описываемая уравнением (6), представляет собой эллипсоид с полуосями длиной 1/ i (i = 1; 2; 3). Если два элемента λi из (3) положительны, а один отрицателен, то поверхность (6) является однополостным гиперболоидом. Наоборот, если два элемента λi из (3) отрицательны, а один положителен, то поверхность (6) является двухполостным гиперболоидом. Наряду с характеристической поверхностью при описании физических свойств, выражающихся тензорами второго ранга, используют у к а з а т е л ь – н у ю п о в е р х н о с т ь. В прямоугольной системе координат (X1X2X3) уравнение указательной поверхности для свойства, описывающегося тензором (3), имеет вид (x1 / λ1)2 + (x2 / λ2)2 + (x3 / λ3)2 = 1. (7) Уравнение (7) характеризует эллипсоид с полуосями длиной | λi | (i = 1; 2; 3). В общем случае по форме указательной поверхности можно определять кристаллографические направления, вдоль которых данное физическое свойство характеризуется минимальным или максимальным численным значением. Примеры характеристических поверхностей свойств, описываемых тензором второго ранга, в кристаллах различной симметрии представлены в таблице 2. 3 ПРИМЕРЫ ТЕНЗОРНЫХ ФИЗИЧЕСКИХ ВЕЛИЧИН Для описания физических свойств кристаллов часто используются тензоры, позволяющие учитывать симметрию кристаллической структуры и связанную с ней анизотропию свойств. Вследствие анизотропии свойств кристаллов физическое явление, вызванное каким-либо воздействием, как правило, не совпадает по направлению с этим воздействием. Если воздействие и вызванное 8 Таблица 2 – Влияние симметрии кристалла на физические свойства, описываемые тензором второго ранга Сингония Кубическая Тетрагональная, гексагональная или тригональная Ромбическая Ненулевые компоненты тензора b11 = b22 = b33 b11 = b22; b33 ≠ b11 b11 ≠ b22 ≠ b33 Моноклинная b11 ≠ b22 ≠ b33; b13 = b31 Триклинная b11 ≠ b22 ≠ b33; b12 = b21; b13 = b31; b23 = b31; b12 ≠ b13 ≠ b23 Характеристическая поверхность Сфера Эллипсоид вращения (сфероид) вокруг главной оси симметрии Трехосный эллипсоид с осями, параллельными кристаллографическим осям Трехосный эллипсоид, одна из осей которого параллельна главной кристаллографической оси Трехосный эллипсоид им явление изотропны (т.е. описываются скалярами), то и соответствующее свойство будет изотропным. Если при скалярном воздействии на кристалл возникающее явление описывается тензором, то и соответствующее свойство кристалла будет тензорным. Тензорные свойства могут обнаруживаться, кроме того, и при векторных, и при тензорных воздействиях. Характерные примеры связей рангов тензоров воздействия n1, свойства n и явления n2 приведены в таблице 3. Нетрудно заметить, что между рангами вышеуказанных тензоров существует следующая связь: n = n1 + n2. В п. 4 таблицы 3 закон Гука 3 σab = c j ,k 1 abjk jk (8) записан в тензорной форме (модули упругости cabjk образуют тензор четвертого 9 Таблица 3 – Взаимосвязь тензоров, характеризующих свойство, воздействие и явление в твердом теле Ранг тензора свойства n Воздействие, ранг тензора n1 Явление, ранг тензора n2 Свойство и тензор, используемый для его описания 1 ∆T – изменение температуры, скаляр (n1 = 0) ∆Р – изменение поляризованности кристалла, вектор (n2 = 1) Пироэлектричество – свойство некоторых диэлектрических кристаллов изменять величину электрической поляризованности при изменении температуры. ∆Р = γ∆T, где γ – вектор пироэлектрических коэффициентов. 2 Е – напряженность электрического поля, вектор (n1 = 1) D – электрическое смещение, вектор (n2 = 1) Диэлектрическая проницаемость характеризует поляризованность тел под действием электрического поля. 3 Di = ε0 k 1 ik E k , где ik – компо- ненты тензора относительных диэлектрических проницаемостей. 2 ω – угловая ско- М – момент рость, псевдовек- импульса, тор (n1 = 1) псевдовектор (n2 = 1) Момент инерции характеризует инертные свойства тела при его вращении. 3 Mf = I k 1 fk k , где Ifk – компо- ненты тензора инерции (реже – тензора моментов инерции). 10 Продолжение таблицы 3 Ранг Воздействие, тен- ранг тензора зора n1 свойства n Явление, ранг тензора n2 Свойство и тензор, используемый для его описания 2 ∆T – изменение температуры, скаляр (n1 = 0) ξjk – механическая деформация, тензор (n2 = 2) Тепловое расширение – изменение размеров тела в процессе его нагревания. ξjk = βjk∆T, где βjk – компоненты тензора коэффициентов линейного теплового расширения твердого тела. 3 σjk – механическое напряжение, тензор (n1 = 2) Р – поляризованность, вектор (n2 = 1) Пьезоэлектричество – изменение поляризованности некоторых диэлектрических кристаллов при приложении внешнего механического напряжения. При прямом пьезоэффекте 3 ------------------Pi = d ijk jk , при обратном ξjk – механиj ,k 1 3 ческая деформация, пьезоэффекте ξjk = d ijk Ei , i 1 тензор где dijk – компоненты тензора (n2 = 2) пьезоэлектрических модулей (реже – тензора пьезокоэффициентов). ξjk – механи- σab– механиче- Упругость – свойство тел изменять ческая ское напряформу под действием нагрузок и деформация, жение, тензор самопроизвольно восстанавливать тензор (n2 = 2) исходную форму при прекращении (n1 = 2) внешних воздействий. При малых деформациях справедлив закон Гука -----------------Е – напряженность электрического поля, вектор (n1 = 1) 4 3 σab = c j ,k 1 abjk jk , где cabjk – компоненты тензора модулей упругости. 11 ранга). В силу симметричности тензоров механических деформаций ξjk и механических напряжений σab для модулей упругости выполняются равенства cabjk = cbajk и cabjk = cabkj (a, b, j, k = 1; 2; 3). Из термодинамики следует, что если деформирующие кристалл силы являются консервативными, то выполняется условие перестановки пар индексов cabjk = cjkab (a, b, j, k = 1; 2; 3). Вследствие вышеупомянутых равенств для модулей упругости число независимых компонент тензора cabjk различных кристаллов составляет от 21 (триклинная сингония) до 3 (кубическая сингония). Вследствие симметричности индексов у модулей упругости cabjk формула закона Гука (8) представляется в матричной форме как 3 σ = c , (9) 1 где σ – механическое напряжение ( = 1; 2; …; 6), – механическая деформация ( = 1; 2; …; 6), с – элементы матрицы модулей упругости (6 6). Матрицы механических напряжений || σ || и деформаций || || выражаются через компоненты соответствующих тензоров σ и ξjk следующим образом: 1 6 5 || σ || = 6 2 4 = 4 3 5 1 || ξ || = 6 5 11 12 13 12 22 23 ; 13 23 33 6 5 11 212 213 2 4 = 212 22 2 23 . 4 3 213 2 23 33 Следует помнить, что матрица модулей упругости || cab || (см. формулу (9)) не является тензором, а ее элементы не преобразуются по формулам, аналогичным (Т2) или (Т4) из таблицы 1. Если деформированное состояние кристалла описывается в соответствии с законом Гука (см. формулы (8) и (9)), то объемная плотность энергии упругой деформации данного кристалла определяется как wупр = (1 / 2) 6 6 1 1 c . (10) 12 Выражение (10) по форме напоминает формулу энергии упругой деформации пружины Wупр = k x2 / 2, где k – жесткость пружины, x – смещение. 4 ПРИМЕРЫ РЕШЕНИЯ ЗАДАЧ З а д а ч а 4.1. В прямоугольной системе координат (X1X2X3) тензор относительных диэлектрических проницаемостей тетрагонального кристалла имеет ненулевые компоненты 11 , 22 = 11 и 33 . Определить все ненулевые компоненты тензора относительных диэлектрических проницаемостей km в системе координат (X1′X2′X3′), повернутой относительно (X1X2X3) вокруг оси ОX3 на угол против часовой стрелки. Тензор ij – тензор второго ранга (см., например, таблицу 3). Преобразование компонент тензора ij проводим в соответствии с формулой (Т2) из таблицы 1: km = 3 3 l i 1 j 1 l , (11) ki mj ij где lki = cos(OXk', ^ OXi). Преобразование осей координат (X1X2X3) → (X1′X2′X3′) (рисунок 1) описывается формулами x1' = x1 cos + x2 cos (90 – ) + x3 cos 90; x2' = x1 cos (90 + ) + x2 cos + x3 cos 90; x3' = x1 cos 90 + x2 cos 90 + x3 cos 0. Cледовательно, матрица преобразования (вращения) имеет вид cos sin 0 || lab || = sin cos 0 . 0 0 1 (12) C учетом формул (11) и (12) компоненты тензора km записываются как 13 Рисунок 1 – Поворот осей координат 11 = l11211 + l12222 + l13233 = (l112 + l122)11 = 11; 22 = l21211 + l22222 + l23233 = (l212 + l222)11 = 11; 33 = l33233 = 33, т.е. не наблюдается зависимости от угла поворота . Нетрудно проверить, что для кристаллов тетрагональной сингонии 12 = 13 = 23 = 0 при любом угле поворота . О т в е т: 11 = 22 =11; 33 = 33. З а д а ч а 4.2. Определить все ненулевые компоненты тензора km из задачи 4.1 в системе координат (X1′X2′X3′), повернутой относительно (X1X2X3) вокруг оси ОX2 на угол по часовой стрелке. В данном случае матрица преобразования осей координат (X1X2X3) → (X1′X2′X3′) имеет вид cos || lab || = 0 sin 0 sin 1 0 0 cos (13) 14 (обратим внимание на то, что (OX3′, ^ OX1) = 90 + , а (OX1′, ^ OX3) = ). С учетом формул (11) и (13) компоненты тензора km определяются как 11 = l11211 + l12222 + l13233 = 11 cos2 + 33 sin2; 22 = l21211 + l22222 + l23233 = 22 = 11; 33 = l31211 + l32222 + l33233 = 11 sin2 + 33 cos2; 12 = l11l2111 + l12l2222 + l13l2333 = 0; 23 = l21l3111 + l22l3222 + l23l3333 = 0; 13 = l11l3111 + l12l3222 + l13l3333 = –11 cos sin + 33 sin cos = (33 – – 11)sin cos. Проверка полученных формул показывает, что при = 0 мы имеем равенства 11 = 22 = 11; 33 = 33 и 12 = 13 = 23 = 0. Поворот на угол против часовой стрелки приводит к замене во всех выражениях для km угла на угол (–): в итоге значения 11, 22 и 33 не изменяются, а знак 13 изменяется на противоположный. О т в е т: 11 = 11 cos2 + 33 sin2; 22 = 11; 33 = 11 sin2 + 33 cos2; 13 = (33 –11)sin cos. З а д а ч а 4.3 [3]. Какова указательная поверхность пироэлектрического эффекта? Пусть в системе координат (X1X2X3) вдоль полярного направления ОА пироэлектрический эффект определяется вектором (А1; А2; А3) (рисунок 2). Выберем произвольное направление и совместим с ним ось ОX3′ новой системы координат (X1′X2′X3′). Тогда по этому направлению пироэлектрический эффект будет определяться компонентой А3, для которой справедливо условие А3 2 х12 х 22 х32 . (14) А 3 выражается через компоненты исходного вектора (А1; А2; А3) следующим образом: А3 С31 А1 С32 А2 С33 А3 . (15) 15 Рисунок 2 – К определению указательной поверхности пироэлектрического эффекта Проведем через начало координат перпендикулярно вектору плоскость Р (см. рисунок 2). Проекция вектора на ось ОX3′ (т.е. компонента А3) будет положительной для точек, лежащих «выше» плоскости Р и отрицательна для точек, лежащих «ниже» плоскости Р. Тогда коэффициенты из (15) равны С31 х1 / А3 ; С32 х 2 / А3 ; С33 х3 / А3 , где знак плюс соответствует точкам над плоскостью Р, а минус – точкам под плоскостью Р. Следовательно, х х х А3 1 А1 2 А2 3 А3 ; А3 А3 А3 А3 2 ( х1 А1 х 2 А2 х3 А3 ). (16) Сравнивая выражения (14) и (16), получаем х12 х22 х32 х1 А1 х2 А2 х3 А3 (17) для точек А 3(х1; х2; х3), лежащих «выше» плоскости Р, и уравнение 16 х12 х22 х32 х1 А1 х2 А2 х3 А3 (18) для точек А 3(х1; х2; х3), лежащих «ниже» плоскости Р. Уравнения (17) и (18) приводятся к виду А3 2 А12 А22 А32 А1 2 А2 2 ( х1 ) ( х2 ) ( х3 ) 2 2 2 4 4 4 (19) А3 2 А12 А22 А32 А1 2 А2 2 ( х1 ) ( х2 ) ( х3 ) 2 2 2 4 4 4 (20) и соответственно. Уравнения (19), (20) представляют собой уравнения указательной поверхности пироэффекта. Геометрический образ данной указательной поверхности – две сферы, соприкасающиеся в начале координат. Центр сферы, заданной уравнением (19), лежит в точке, определяемой радиус-вектором / 2, а центр сферы, заданной уравнением (20), лежит в точке, определяемой радиус-вектором (– )/ 2. О т в е т: уравнения (19) и (20). З а д а ч а 4.4 [3]. Найти величину и направление вектора плотности тока j (в системе координат (X1X2X3)), возникающего в кристаллической пластинке площадью S и толщиной d ( S >> d) под действием внешнего поля Е = 150 В / см в направлении ( 2 / 2; 2 / 2; 0), если удельная проводимость кристалла (в 10-7 Ом-1 см-1) в этой системе координат (X1X2X3) описывается тензором || ij(c ) 9 2 8 || 2 16 0 . 8 0 25 Компоненты вектора напряженности внешнего электрического поля Е (Е1; Е2; Е3) равны Е1 150 2 / 2 В / см; Е2 150 2 / 2 В / см; Е3 0. Согласно 17 закону Ома в дифференциальной форме, компоненты вектора плотности тока j (j1; 3 j2; j3) в кристалле определяются по формуле ji = k 1 (c) ik Ek : j1 = 11(c ) E1 + 12(c ) E2 + 13( c ) E3; j2 = (21c ) E1 + (22c ) E2 + (23c ) E3; (c) (c) (c) j3 = 31 E1 + 32 E2 + 33 E3. Численные значения равны j1 = 7,4.10-5 А / см2; j2 = 14,7.10-5 А / см2; j3 = 8,46.10-5 А / см2; | j | = 18,5.10-5 А / см2. Направление вектора j определяется углами 1, 2, 3 c помощью формулы cos i = ji / | j | (i = 1; 2; 3). Эти углы равны 1 = 66; 2 = 37; 3 = 63. О т в е т: | j | = 18,5.10-5 А / см2; 1 = 66; 2 = 37; 3 = 63. З а д а ч а 4.5. Состояние упругой деформации кристалла тетрагональной симметрии задается в прямоугольной системе координат (X1X2X3) тензором || ab 0 0 || = 0 2 0 / 4 0 0 0 / 4 0 , где 3 0 0 > 0. Матрица модулей упругости кристалла имеет вид || с || = c11 c12 c13 0 0 0 c12 c11 c13 0 0 0 c13 c13 c33 0 0 0 0 0 0 0 c 44 0 0 0 0 0 c 44 0 0 0 0 0 0 c 66 . Определить а) ненулевые компоненты тензора механических напряжений σjk, возникающих в кристалле; б) объемную плотность упругой энергии wупр данного кристалла. 18 Перейдем к одноиндексной форме записи деформаций ab . Соответствующая матрица принимает вид || 0 0 || = 0 2 0 / 2 0 0 0 / 2 0 (при записи данной матрицы учтено, что 3 0 недиагональные компоненты тензора деформаций удовлетворяют условию 5 = 213 = 0 / 2). Подставляя элементы матриц || с || и || || в формулу (9), получим σ11 = σ1 = с111 + с122 + с133 = с110 + с12 (–20) + с13.30 = (с11 – 2с12 + 3с13)0; σ22 = σ2 = с211 + с222 + с233 = с120 + с11 (–20) + с13.30 = (с12 – 2с11 + 3с13)0; σ33 = σ3 = с311 + с322 + с333 = с13(0 – 20) + с33.30 = ( – с13 + 3с33)0; σ13 = σ5 = с555 = с440 / 2; σ12 = σ6 = 0; σ23 = σ4 = 0. Объемная плотность упругой энергии определяется по формуле (10). Для упругой деформации данного кристалла получаем следующее выражение: wупр = (1 / 2)( с1112 + с2222 + с3332 + 2с1212 + 2с1313 + 2с2323 + с5552) = = (1 / 2)[с1102 + 4с1102 + 9с3302 – 4с1202 + 6с1302 – 12с1302 + (с4402 / 4)] = = (1 / 2)[5с11– 4с12 – 6с13 + 9с33 + (с44 / 4)]02. О т в е т: σ11 = (с11 – 2с12 + 3с13)0; σ22 = (с12 – 2с11 + 3с13)0; σ33 = ( – с13 + 3с33)0; σ13 = с440 / 2; wупр = (1 / 2)[5с11– 4с12 – 6с13 + 9с33 + (с44 / 4)]02. 5 КОНТРОЛЬНЫЕ ВОПРОСЫ 5.1. Сколько компонент имеют а) скаляр; б) вектор; в) тензор n-го ранга? 5.2. Чем характеризуется тензор n-го ранга? 5.3. Как преобразуются компоненты тензора второго ранга при переходе из прямоугольной системы координат (X1X2X3) в прямоугольную систему координат (X1′X2′X3′)? 5.4. Что такое а) главные оси тензора второго ранга; б) главные значения тензора второго ранга? 19 5.5. В чем состоит отличие указательной поверхности от характеристической? Для каких тензоров вводятся эти поверхности? 5.6. Какую информацию можно получить, изучая указательную поверхность? 5.7. Как представляются механические напряжения и деформации в одноиндексной форме? 6 ЗАДАЧИ 6.1. Определить тензор относительных диэлектрических проницаемостей km кристалла моноклинной сингонии в системе координат (X1′X2′X3′), если в исходной системе координат (X1X2X3) ненулевые компоненты тензора равны 11, 22, 33 и 13 = 31. Система координат (X1′X2′X3′) повернута относительно (X1X2X3) по часовой стрелке на угол а) 45 вокруг оси ОX1; б) 30 вокруг оси ОX2; в) 60 вокруг оси ОX3. 6.2. Диэлектрическая проницаемость некоторого кристалла в системе координат (X1X2X3) характеризуется тензором 12 5 0 5 24 0 0. Каким образом следует вырезать тонкую кристаллическую 0 0 32 пластинку для достижения наибольшей емкости плоского конденсатора на основе данного кристалла? 6.3. Определить характеристическую поверхность упругих деформаций, задаваемых тензором 2 0 0 . -4 0 3 0 10 . 0 0 9 6.4. Удельная электропроводность кристалла ромбической сингонии описывается в системе координат (X1X2X3) тензором 20 0 0 0 0 0,8 0 0 0 0 , где 0 > 0. Определить плотность тока j при приложении к 1,3 0 кристаллу внешнего электрического поля E(E0, 0, –E0), где E0 > 0. 6.5. Деформация кристалла кубической сингонии с модулями упругости || с || = c11 c12 c12 0 0 0 c12 c11 c12 0 0 0 c12 c12 c11 0 0 0 0 0 0 0 c 44 0 0 0 0 0 c 44 0 0 0 0 0 0 || ij || = 0 2 0 / 8 0 0 0 0 c 44 характеризуется тензором 0 / 8 0 , где 0 > 0. Определить компоненты тензора 0 / 3 механических напряжений 11, 22 и 33, а также объемную плотность упругой энергии wупр данного кристалла. РЕКОМЕНДУЕМАЯ ЛИТЕРАТУРА 1. Борисенко А. И., Тарапов И. Е. Векторный анализ и начала тензорного исчисления [Текст]: учеб. пособие для вузов. – Харьков: Вища шк.; Изд-во при Харьк. гос. ун-те, 1986. – 216 с. 2. Шаскольская М. П. Кристаллография [Текст]: учеб. пособие для втузов. – 2-е изд. – М.: Высш. шк., 1984. – 376 с. 3. Переломова Н.В., Тагиева М.М. Задачник по кристаллофизике [Текст]: учеб. пособие для вузов. – 2-е изд. – М.: Наука, 1982. – 288 с. 4. Савельев И.В. Основы теоретической физики. Т. 1. Механика и электродинамика [Текст]: учеб. пособие для вузов. – М.: Наука, 1991. – С.412– 430. 21