«С появлением «принципа неопределенности» Гейзенберга значение ошибок при наблюдениях выступило на передний план…. При наблюдении всегда возникает возмущение – это принципиальное и неизбежное обстоятельство. Если имеется совершенно изолированная и невозмущенная система, то ее нельзя наблюдать» . Л. Бриллюэн – 1958 г. «Микрофазы» в области состава Ce2Cd9 при 710оС (изопьестические измерения G.R.B.Elliott and J.F.Lemons– 1963) Погрешность термостатирования о образцов сплава 0.01 Погрешность измерения -6 активности Cd 8·10 Время одного измерения активность-состав от 1 до 3х недель (цифрами обозначены номера опытов) Эффузионная камера с высокотемпературным нагревателем Схема тройной эффузионной камеры 1-две части корпуса камеры 2-диафрагмы с эффузионными отверстиями, 3-стаканчик с испаряющимся веществом, 4- вкладыш, 5-уплотняющие винты, 6-винты для соединения частей камеры, 7-канал для подвески камеры в нагревателе. Торсионно-эффузионный метод измерения давления пара P = 2Dq / (d1s1 + d2s2) P – давление пара в эффузионной камере q - угол поворота камеры D – торсионная постоянная подвески s – эффективные площади эффузии d – расстояния эффузионных отверстий до оси вращения камеры Влияние ассоциации частиц A1 в паре (A1, A2,…,An) на измеряемые давления A Эффузионно-торсионные методы : P = P1 + P2 + … + Pn Эффузионные методы: P = P1 + 2 P2 + … + Методы переноса пара газом-носителем: n Pn P = P1 + 2P2 + … + nPn Камера для изучения свободного испарения жидкого вещества 1- блок печи, 2- термопара, 3- камера с жидким веществом, 4- плавающая крышка из металлической фольги с отверстием для испарения, 5- коллиматорные отверстия или щели. Схема вакуумной установки с эффузионным источником молекулярного пучка и детектором с поверхностной ионизацией Детекторы с поверхностной ионизацией уравнение Саха-Ленгмюра: α =(1/2)exp[(ϕ – I)/kT] α=+/ о – эффективность поверхностной ионизации + – поток ионов с эмиттера о – поток нейтральных атомов на эмиттер ϕ – работа выхода электронов с поверхности эмиттера I – потенциал ионизации атома T – температура, К Установка с молекулярным пучком и селектором молекулярных скоростей 1 – детектор молекулярного пучка (МП) 2 – ионизатор 3- коллиматоры пучка 4 – селектор молекулярных скоростей 5 – заслонка МП 6 – нагреваемая камера источника МП 7 – диафрагма источника МП 8 – стаканчик с испаряемым веществом 9 Спектры молекулярных скоростей I – интенсивность молекулярного пучка – частота вращения дисков селектора молекулярных скоростей 1 - Калий, 405 К 2 - Хлорид цезия, 751 К Схема лампы для измерения давления пара щелочного компонента сплава или соединения методом поверхностной ионизации 1- вольфрамовая спираль, 2 – соединение с вакуумной системой, 3- ренивая или вольфрамовая фольга, 4 – коллектор положительных ионов, 5 – катод (для 3) или анод (для 1), 6- стеклянная лампа. Прибор для синтеза сплавов и измерения давления пара натрия 1 – лампа из Na-содержащего стекла 2 – спираль из W для (a) распыления нелетучего компонента сплава вначале опыта и (б) катод для электролитического выделения Na в лампе при синтезе сплава 3- ионный эмиттер из Re проволоки 4- коллектор ионов 5- охранное кольцо 6- расплав натриевой соли 7- анод для электролиза 8- стабилизатор тока 9- кулонометрический измеритель химического состава сплава Давление паров натрия при низких температурах, измеренное методом поверхностной ионизации (метод накопления ) Давления паров цезия над соединениями с сурьмой 1 – Cs3Sb7 2 – CsSb2 3 – CsSb 4 – Cs5Sb4 5 – Cs2Sb 6 – Cs3Sb Cs-Bi Диапазоны давлений паров щелочных элементов (в атм.), измеряемые детекторами с поверхностной ионизацией МЕТОДЫ ГЕТЕРОГЕННЫХ ХИМИЧЕСКИХ РЕАКЦИЙ Методы основаны на измерении равновесных парци-альных давлений компонентов идеальных газовых смесей H2O-H2, COCO2 , H2-NH3 , H2-СH4 , H2-H2S, и др. , химически реагирующих с исследуемыми индивидуальными кристаллическими соединениями (оксидами, карбидами, нитридами, сульфидами, галогенидами), или растворами (сплавами) с переходом компонентов в газ и/или в новую конденсированную фазу. Главное условие и ограничение – соответствие между уравнениями химических реакций, использованными для описания равновесия в системе, и ее истинным составом (химическим и фазовым). МЕТОДЫ ГЕТЕРОГЕННЫХ ХИМИЧЕСКИХ РЕАКЦИЙ: примеры применения для изучения свойств оксидов, карбидов, нитридов, сульфидов, галогенидов WO2(c) + 2CO(g) = 2CO2(g) + W(c), Kp=(pCO2/pCO)2 Fe3C(c) + CO2(g) = 2CO(g) + 3Fe(c), Kp = pCO2/pCO2 2Fe4N(c) + 3H2(g) = 2NH3(g) + 8Fe(c), Kp=pNH32/pH23 Ag2S(c) + H2(g) = H2S(g) + 2Ag(c), Kp = pH2S /pH2 CaF2(c) + H2O(g) = 2HF(g) + CaO(c), Kp=pHF2/pH2O c, c – кристаллические фазы, g – идеальные газы о ΔG = - RT·lnKp МЕТОДЫ ГЕТЕРОГЕННЫХ ХИМИЧЕСКИХ РЕАКЦИЙ: пример определения активности одного из компонентов раствора 2Cr(s) + 3H2O(g) = 3H2(g) + Cr2O3(c), Kp(c, s, g) = (pH2 /pH2O)s3 / aCr2 2Cr(c) + 3H2O(g) = 3H2(g) + Cr2O3(c) Kp(c, c, g) = (pH2 /pH2O)c3 aCr = [(pH2 /pH2O)с / (pH2 /pH2O)s]3/2 s – твердый раствор Cr и Ni, c – кристаллические Cr2O3, Cr g – идеальный газ. Температура постоянная. МЕТОДЫ ГЕТЕРОГЕННЫХ ХИМИЧЕСКИХ РЕАКЦИЙ: примеры определения активности углерода и серы в их растворах с металлами C(s) + 2H2(g) = CH4(g), Kp(s, g) = (pCH4 /pH22)s/aC C(c) + H2(g) = CH4(g), Kp(c, g) = (pCH4 /pH22)c aC = (pCH4 /pH22)c / (pCH4 /pH22)s. S(s) + H2(g) = H2S(g), Kp(s, g) = (pH2S/pH2)s/aS S(c) + H2(g) = H2S(g), Kp(c, g) = (pH2S/pH2)c aS = (pH2S/pH2)c / (pH2S/pH2)s s – раствор углерода C (или серы S) в металле, c – С (или S) в стандартном состоянии,