ИССЛЕДОВАНИЕ ИОННОГО ДИОДА СО ВЗРЫВОЭМИССИОННЫМ КАТОДОМ. Часть 3. 1. INTRODUCTION 2. EXPERIMENTAL INSTALLATION 3. BASIC CALCULATION EQUATIONS 4. MODE OF MAGNETIC SELF-ISOLATION 5. CONCLUSION 1. Denotation of the operating modes of the TEMP-4M discrete emissive surface mode Rexp>Rcalc Rexp U I Rcalc mode of volumetric charge limitation Rexp=Rcalc mode of magnetic self-isolation Rexp>Rcalc U (d 0 v t ) 2 S0 J e S0 2.33 10 6 U 1 / 2 2 Режим магнитной самоизоляции potential electrode (anode) U=200-300 kV + grounded electrode (cathode) Ion beam 3 2. Исследование механизма подавления электронного тока в ионном диоде с магнитной самоизоляцией Введение 1. Анализ изменения условий магнитной изоляции по длине диода 2. Расчет скорости дрейфа электронов. 3. Новый механизм подавления электронного тока. 4. Исследование кольцевого диода с магнитной самоизоляцией Заключение 4 Схема движения электронов и ионов в диоде с магнитной самоизоляцией Расчет времени ускорения ионов Эффективность подавления электронной компоненты в диодах с магнитной изоляцией определяется соотношением времени нахождения электронов и ионов в анод-катодном зазоре. Ii Ie te ti При условии равноускоренного движения ионов в анод-катодном зазоре продолжительность их ускорения (с учетом сокращения А-К зазора) равна: v max 2 z U d (t ) mi (d 0 vt) 2mi ion (t ) a mi U z z U vmax – скорость иона после прохождения а-к зазора, а – ускорение в электрическом поле. 6 Calculation of the electrons drift time Скорость дрейфа электронов в скрещенном электрическом и магнитном поле: vдр (t ) E U (t ) , м / сек B d (t ) B(t ) где Е — напряжённость электрического поля, В/м, В – магнитная индукция, Тл. U U d e e U vдр1 (t ) 0.3 106 U (t ) , м / сек 0.3 U , мм / нс d Bкр d 2mU 2m vдр 2 (t ) U (t ) (d 0 vt) B (t ) L(d 0 vt) B(t) e (t ) 2vдр (t ) 2U (t ) L B(t) = ? Магнитное поле в А-К зазоре формируется собственным током диода и в отличие от диода с внешней магнитной изоляцией не постоянно по длине диода. Поэтому скорость электронов меняется по длине диода и расчет времени их дрейфа сложен. Проще рассчитать минимальную величину индукции магнитного поля Вmin, необходимую для реализации эффекта подавления электронного тока собственным магнитным полем. L(d 0 vt) B e (t ) 2vдр (t ) 2U (t ) L Cреднее время дрейфа электронов: v max 2 z U d (t ) mi (d 0 vt) 2mi ion (t ) a mi U z z U Продолжительность ускорения ионов: При В = Вmin τe = τion Тогда Bmin e 2U L(d 0 vt) ion 2U L(d 0 vt) 2U (d 0 vt) 2mi L(d 0 vt) z U 2 2mi U L z Bmin 2 2mi U L z Vandevender J.P., Quintenz J.P., Leeper R.J., Johnson D.J., Crow J.T. Self-magnetically insulated ion diode // J. Appl. Phys. – 1981. – №52/1. – Р. 4–12. Bкр = 0.27-1.6 Тл Вmin = 4 Tл (τe = τion ) Схема диодного узла: 1 – анод; 2 – траектория иона; 3 – траектория электрона; 4 – катод; 5 – углеродная решётка Bmin 2 2mi U L z ; Bcr 1 d 2meU , e Распределение магнитной индукции поперек АК зазора на внутреннем радиусе диода (1) и на внешнем радиусе (2). Bystritskii V.M., Glushko Yu.A., Kharlov A.V., Sinebryukhov A.A. Experiments on high power ion beam generation in self-insulated diodes // Laser and Particle Beams. – 1991. – Vol. 9. – № 3. – P. 691–698. Схема сферического диода с самоизоляцией: 1 – калориметр, 2 – активный делитель напряжения, 3, 4, 8 – пояса Роговского, 5 – петля индуктивной коррекции, 6 – анод, 7 – катод, 9 – электронный диод, 10 – фланец откачки. Типичные кривые напряжения на диоде (1), тока диода (2) и ионного тока (3) для диода с жалюзийным катодом с А-К зазором 10 мм Bкр = 0.25-0.38 Тл Вmin = 1.8 Tл (τe = τion ) Распределение магнитной индукции поперек А-К зазора на внутреннем радиусе диода (1) и на внешнем радиусе (2). Bmin 2 2mi U L z ; Bcr 1 d 2meU , e τe ≤ τion Быстрицкий В.М., Диденко А.Н., Красик Я.Е., Матвиенко В.М. Генерация мощного ленточного ионного пучка в диоде с самоизоляцией // Физика плазмы. – 1985. – Т. 11. – № 9. – С. 1057–1061. Схема ленточного диода с самоизоляцией и диагностические средства: 1 – ленточный анод, 2 – диэлектрическое покрытие анода, 3 – анодный пояс Роговского, 4 – ленточный катод, 5 – КЦФ, 6 – дополнительный отвод, 7 – катодный пояс Роговского, 8 – мишени, 9 – участок срыва электронного потока, 10 – изолятор ускорителя, 11 – ДФЛ, 12 – делитель напряжения Bкр = 0.19 Тл Вmin = 0.23 Tл Распределение магнитной индукции в поперечном сечении диода вдоль поверхности заземленного электрода (1) на расстоянии 1 мм (сечение 1). Кривая 2 – распределение магнитной индукции поперек А-К зазора (сечение 2) в центре диода. Bmin 2 2mi U L z ; Bcr 1 d 2meU , e τe ≤ τion Yoshikawa Т., Masugata К., Ito M. Matsui. M., and K. Yatsui Planar-type selfmagnetically insulated diode as a new source of intense pulsed light-ion beam // J. Appl. Phys., v. 56, No 11 (1984), p.31373140. Типичные кривые напряжения на диоде (1), тока диода (2) и плотности ионного тока14 (3) Bкр = 0.25 Тл Вmin = 1.75 Tл Распределение магнитной индукции в поперечном сечении диода вдоль поверхности заземленного электрода (сечение 1) на расстоянии 1 мм (1) и поперек А-К зазора (сечение 2) в центре диода. Кривая 3 – магнитная индукция без учета демпфирования. Bmin 2 2mi U L z ; Bcr 1 d 2meU , e τe ≤ τion Режим работы ионных диодов с магнитной самоизоляцией разной конструкции ионы Вкр, Тл Вmin, Тл ВАК, Тл Ii/Ie ЧЛ К1 K2 0.27– 1.6 4 4 – 7.5 10% 2.3% 4.3 - 0.25–0.38 1.8 0.31-0.73 15-20% 2.3% 3-4 2-2.5 0.19 0.23 0.18 27-33% 4.6% 2-5 1.9-2.3 0.25 1.75 0.73 29% 2.3% 10 1.26 ТЕМП-4М Плоский полосковый диод 0.17-0.22 1.8-2.2 0.7 5-6% 0.7% 5-8 1.5-2 ТЕМП-4М Фокусирующий полосковый диод 0.17-0.22 1.8-2.2 0.7 8-9% 0.7% 5-8 1.5-2 0.16-0.21 0.76-0.93 0.4-0.6 15-20% 0.7% - 4-5 ТЕМП-4М Спиральный диод 0.26 0.34 0.8 17-20% 0.7% - 2-2.5 ТЕМП-4М Диод с замкнутым дрейфом 0.24 0.34 3.1 30-40% 0.7% - 2.3-2.6 Ускоритель Mite ПАРУС ТОНУС, ВЕРА протоны ETIGO-1 ТЕМП-4М Кольцевой диод С+ (85%) и протоны Вкр – критическая магнитная индукция Вmin - магнитная индукция в А-К зазоре, при которой время дрейфа электронов равно времени ускорения ионов ВАК - магнитная индукция в области дрейфа электронов в А-К зазоре ЧЛ – отношение расчетной плотности ионного тока (соотн. 2) к расчетной плотности электронного тока (соотн. 1) К1 –отношение экспериментальной плотности ионного тока к расчетной по соотношению 2 К2 – отношение расчетной плотности электронного тока по соотношению 1 к экспериментальной плотности электронного тока Диодный узел с плоским диодом Осциллограммы ускоряющего напряжения (1), полного тока в плоском диоде (2), расчетный ток электронов (3) и протонов (4). Зазор 8 мм. 17 Основные расчетные соотношения электронный ток 4 0 2e U 3/ 2 Je 2 1 . 86 [ d v ( t t )] 9 m 0 0 ионный ток 4 К 0 2 z U 3/ 2 J ион [d 0 v(t t0 )]2 9 mi 18 I ион 5 10% I пол н Осциллограммы ускоряющего напряжения (1), полного тока в плоском диоде (2), расчетный ток электронов (3) и протонов (4). Зазор 8 мм. Большой электронный ток может быть вызван: 1. Наличием незамагниченной области диода (В 2. Высокой скоростью дрейфа электронов (τe ≤ Вкр) ≤ τion ) 19 1. Анализ изменения условий магнитной изоляции по длине диода В ≥ Вкр В ≤ Вкр Схема движения электронов и силовых линий магнитного поля в полосковом диоде на втором 20 импульсе Распределение магнитной индукции в анод-катодном зазоре (Elcut) cathode Распределение индукции магнитного поля в плоском полосковом диоде. Материал потенциального электрода графит potential electrode (cathode) grounded electrode (anode) поперек А-К зазора B(t) = 0.014·I(t), Тл, при токе в кА. 40 мм×1 мм, ток 10 кА Распределение магнитной индукции в поперечном сечении диода (а): 1 – заземленный электрод, 2 – потенциальный электрод. Изменение магнитной индукции в сечении 1 диода (б) с учетом (1) и без учета (2) демпфирования магнитного поля материалом потенциального электрода. Кривая 3 – распределение магнитной индукции поперек А-К 22 зазора в центре диода (сечение 2). Осциллограммы ускоряющего напряжения (1) и полного тока (2) в плоском полосковом диоде 1 Bcr d B(t) = 0.014·I(t) Осциллограмма ускоряющего напряжения (1), критическая магнитная индукция (2) и магнитная индукция в АК зазоре (3) 2meU , e Отношение магнитной индукции в а-к зазоре к критической магнитной индукции (2) Незамагниченная площадь в плоском диоде не превышает 25%. Это справедливо при условии: 1. Однородная генерация электронов по длине диода. 2. Незначительное падение напряжения на индуктивности заземленного электрода. 3. Электроны в области дрейфа не дают вклад в магнитное поле в А-К зазоре 24 1.4. Исследование однородности генерации пучка в плоском диоде Схема измерения распределения плотности энергии МИП Тепловой отпечаток и распределение плотности энергии на мишени из латуни толщиной 80 мкм. Расстояние от диода до мишени 5 см. 26 Pushkarev A.I. et al Phys. of Plasmas 17, 013104 (2010). Rcalc U S0 J e (d 0 v t ) 2 S 0 2.33 10 6 U 1/ 2 Rcalc = Rexp В диоде с магнитной самоизоляцией происходит эффективное плазмообразование на всей поверхности взрывоэмиссионного потенциального электрода. 27 1.5. Оценка вклада дрейфующих электронов в формирование магнитного поля Высота трохоиды дрейфового движения электронов в диоде с магнитной изоляцией на втором импульсе: 2 (t ) 2me E 2me U (t ) e B2 e[d 0 v (t t0 )]B( x, t ) 2 Магнитная индукция в а-к зазоре по длине диода меняется незначительно и равна сумме магнитной индукции тока по заземленному электроду и магнитной индукции дрейфующих вдоль его поверхности электронов. Изменение высоты трохоиды дрейфового движения электронов (2). 28 1.6. Анализ неоднородности электрического поля в анод-катодном зазоре за счет падения напряжения на заземленном электроде Электроны движутся от точки заземления к области эмиссии в а-к зазор, вызывая падение напряжения вдоль электрода. Поэтому ускоряющее напряжение будет меняться по длине диода. Плотность ионного тока зависит от ускоряющего напряжения и будет меняться по длине диода. Активное сопротивление области заземленного электрода, в которой перемещаются электроны, равно: R l h ts , Ом где ρ –удельное сопротивление материала электрода (сталь 0.15 Ом·mm2/м), lдлина электрода, h - ширина заземленного электрода, ts - толщина скин-слоя. Толщина скин-слоя в заземленном электроде, выполненном из нержавеющей стали, составляет 0.12 мм для тока с частотой 2.5 МГц (длительность импульса тока 200 нс, см. Рис. 4). Для заземленного электрода из нержавеющей стали полное омическое сопротивление равно 3.7·10-3 Ом. При полном токе 50 кА падение напряжения составит 185 В. Uинд = L·dI/dt Для прямолинейного проводника на высокой частоте индуктивность можно рассчитать по соотношению: L 0 l 4l ln 1, Гн 2 d где μ0 – магнитная постоянная; l – длина проводника, м; d – диаметр проводника, м. Изменение индуктивности заземленного электрода по его длине Осциллограммы напряжения на потенциальном электроде U, полного тока диода Iпр, падение напряжения на заземленном электроде Uинд и напряжение в анод-катодном зазоре Uак на 15 см 30 от точки заземления Отношение магнитной индукции в а-к зазоре к критической магнитной индукции (2) Площадь незамагниченной области диода: S, cm U, kV 2 250 120 1 200 100 150 80 2 100 60 50 40 0 20 -50 450 0 500 550 600 650 t, ns Выполненный анализ показал, что если полный ток в диоде с магнитной самоизоляцией определяется площадью незамагниченной области диода, то эта площадь должна превышать 50% полной площади диода. Но эта площадь в плоском диоде не превышает 25% даже без учета вклада дрейфующих электронов. Поэтому низкая эффективность подавления электронного тока в диоде с магнитной самоизоляцией не может быть обусловлена областью с низкой индукцией магнитного поля (B<Bкр) в конце диода. Правильность выполненных расчетов подтверждают экспериментальные исследования • с формированием доп. магнитного поля в зазоре постоянными магнитами (0.1-0.15 Тл) • при протекании дополнительного тока (5-7 кА, разная полярность) по полосковому заземленному 31 электроду. 2. Расчет скорости дрейфа электронов. Эффективность подавления электронной компоненты в диодах с магнитной изоляцией определяется соотношением времени нахождения электронов и ионов в анод-катодном зазоре. Скорость дрейфа электронов в скрещенном электрическом и магнитном поле: vдр (t ) E U (t ) , м / сек B d (t ) B(t ) vдр1 (t ) где Е — напряжённость электрического поля, В/м, В – магнитная индукция, Тл. U U d e e U 0.3 106 U (t ) , м / сек 0.3 U , мм / нс d Bкр d 2mU 2m U (t ) vдр 2 (t ) [d 0 v(t t0 )]B (t ) Расчет линейной скорости электронов выполнен с учетом высоты трохоиды, по которой они перемещаются, и релятивистского фактора: ve (t ) 2eU (t ) (t ) U (t ) (t ) 18.8 , mm / ns m d (1 ) d (1 ) при U в кВ, d и Δ в мм. 32 Изменение дрейфовой (2) и линейной (3) скорости электронов Отношение линейной скорости электрона к дрейфовой (2) 33 Изменение скорости дрейфа электронов в А-К зазоре при генерации ионного пучка в кольцевом (1), конусном (2) и плоском полосковом (3) диодах с магнитной самоизоляцией. 34 Расчет времени ускорения ионов Ионы в А-К зазоре под действием электрического поля движутся с постоянным ускорением. Их скорость при этом равна: v(t) = v0+at где а – ускорение в электрическом поле. При v0 = 0 скорость ионов после прохождения зазора равна vmax = aτion, где τion – время пребывания иона в ускоряющем зазоре диода. Сила Кулона, действующая на ион в электрическом поле, равна: F a mi E z U (t ) z d (t ) Кинетическая энергия иона после прохождения ускоряющего промежутка с разностью потенциалов U равна: 2 mi vmax U z 2 35 При условии равноускоренного движения ионов в анод-катодном зазоре продолжительность их ускорения (с учетом сокращения анод-катодного зазора и эффекта плазменного размыкания) равна: v max 2 z U d (t ) mi [d 0 v(t t0 )] 2mi ion (t ) a mi U z z U vmax – скорость иона после прохождения а-к зазора, а – ускорение в электрическом поле. 36 Осциллограмма ускоряющего напряжения, время нахождения ионов С+, протонов и электронов в анод-катодном зазоре. 37 Изменение отношения времени нахождения электронов и ионов С+ в А-К зазоре в конусном, кольцевом (1) и плоском полосковом (2) диодах. 38 Проведенные исследования показали, что дрейф электронов вдоль анодкатодного промежутка диода с магнитной самоизоляцией не обеспечивает подавление электронного тока. I расч I эксп 1.5 2 39 Исследование работы диода в одноимпульсном режиме Эффект подавления электронного тока в ионном диоде с магнитной самоизоляцией удобно исследовать при работе ускорителя ТЕМП-4М в одноимпульсном режиме. В этом случае заряд внутренней линии идет через зарядную индуктивность 5, установленную перед предварительным разрядником 4 в ДФЛ. Предварительный разрядник 4 срабатывает только после пробоя основного разрядника 1, предотвращая поступление напряжение на анод диода в течение зарядки ДФП. Поэтому к моменту прихода ускоряющего импульса положительной полярности на анод анодная плазма отсутствует и полный ток в диоде определяется только электронным током с катода. 40 Осциллограммы ускоряющего напряжения (1), полного тока в плоском диоде (2), расчетный ток электронов (3). Зазор 7 мм (а) и 6 мм (b). I расч I эксп 1.5 2 41 3. Механизм подавления электронного тока. Снижение электронного тока в диоде с магнитной самоизоляцией на втором импульсе может быть вызвано увеличением плотности электронов у поверхности заземленного электрода (катод на втором импульсе) дрейфующими электронами. Эти электроны образуют виртуальный катод, препятствующий эмиссии электронов с поверхности заземленного электрода. Область дрейфа Изменение концентрации электронов в области пространственного заряда. Зазор 8 мм. Изменение высоты трохоиды дрейфового 42 движения электронов (2). Схема движения электронов и ионов в диоде с магнитной самоизоляцией концентрацию дрейфующих электронов nдр(t) можно рассчитать из соотношения: I (t ) S jдр (t ) S e nдр (t ) vдр (t ) e h (t ) nдр (t ) vдр (t ); Изменение концентрации электронов в области дрейфа. Изменение концентрации электронов в области пространственного заряда. Зазор 8 мм. Этот эффект приводит также и к усилению ионного тока в диоде с магнитной самоизоляцией. Часть электронов дрейфует в анод-катодном зазоре в области объемного заряда ионов (вблизи поверхности потенциального электрода), обеспечивая дополнительную компенсацию заряда ионов и увеличение плотности ионного тока. Коэффициент усиления составляет 5-9 и увеличивается с ростом паузы между первым и вторым импульсом. 44 Изменение концентрации электронов в области пространственного заряда. Зазор 8 мм. 45 K q расч Dependence of amplification coefficient on delay in second pulse formation. qэксп q расч 4 0 2 z U 3/ 2 dt 2 9 m [d 0 v(t t0 )] Alexander I. Pushkarev, Yulia I. Isakova and Dmitry V. Vahrushev The effect of ion current density amplification in a diode with passive anode in magnetic self-isolation mode// Physics of Plasmas 17, 123112 (2010) 46 I расч I эксп 1.5 2 Qэксп = Qрасч = 7±0.3 мКл S 4 0 2e U 3 / 2 I расч 2 d0 9 me t Qэксп I пр (t )dt 0 Для дополнительного подтверждения полученных результатов были выполнены исследования кольцевого диода. 47 4. Исследование кольцевого диода с магнитной самоизоляцией. Средняя длина витка заземленного электрода 55 см, что в 2.5 раз превышает длину полоскового диода. Площадь электрода равна 270 см2. 48 Iрасч/Iэксп =6 Qэксп = 4.6 мКл Qрасч = 22 мКл Осциллограммы ускоряющего напряжения (1) и полного тока в кольцевом диоде (2). Кривая 3 - расчетный ток электронов, кривая 4 расчетный ток протонов. Зазор 8-10 мм. 49 Осциллограмма ускоряющего напряжения (1), время нахождения ионов С+ (2), протонов (3) и электронов (4) в анод-катодном зазоре кольцевого диода 50 Площадь области диода, с которой происходит эмиссия электронов (критическая площадь), можно рассчитать как отношение общего тока к плотности электронного тока при его ограничении объемным зарядом. I (t ) I (t ) [d0 v (t t0 )]2 S (t ) J e (t ) 2.33 10 6 1.86 U 3 / 2 Изменение ускоряющего напряжения, второй импульс (1), площади эмиссионной поверхности электрода плоского полоскового (2) и кольцевого (3) диода 51 Заключение 1. В диоде с магнитной самоизоляцией происходит эффективное плазмообразование на всей поверхности взрывоэмиссионного потенциального электрода с площадью до 270 см2. 2. Условие магнитной изоляции В > Вкр выполняется по всей длине диода (22 - 55 см). 3. Причина низкой эффективности подавления электронной компоненты в диоде с магнитной самоизоляцией - высокая скорость дрейфа замагниченных электронов, превышающая 3 см/нс. 4. Подавление электронной компоненты полного тока обусловлено образованием виртуального катода электронами, дрейфующими вблизи поверхности заземленного электрода в течение генерации МИП. 52