Лаборатория «Структурных методов анализа и свойств

Лаборатория структурных методов
анализа и свойств материалов
и наноматериалов
Лаборатория Структурных методов анализа и свойств материалов и наноматериалов
Возможности лаборатории
Анализ структуры металлов и сплавов
1. Анализ микроструктуры методами оптической микроскопии
2. Электронно-микроскопические исследования методами растровой и
просвечивающей электронной микроскопии + МРСА, ЕВSD
3. Рентгеноструктурный фазовый и текстурный анализ
Измерение теплофизических свойств
1. Синхронный термический и термогравиметрический анализ
2. Динамический механический анализ
3. Определение температуропровдности и теплопроводности
4. Определение коэффициента линейного термического расширения
5. Определение температурных интервалов фазовых, структурных превращений
6. Определение электросопротивления
7. Определение плотности материалов
Измерение теплофизических свойств
1. Проведение испытаний на растяжение, сжатие, трехточечный изгиб
2. Проведение стандартных испытаний на ударный изгиб
3. Измерение твердости и микротвердости
Приборы для структурного анализа
Инвертированный оптический микроскоп OLYMPUS GX51
Назначение: изучение морфологии структурных
и фазовых составляющих при увеличении до х1000
Технические характеристики:
Увеличение: от 50 до 1000 крат
Режимы: светлое/темное поле,
поляризованный свет
Цифровая видеокамера: SIMAGIS 6M С-mount, высокого разрешения.
6.6 мегапикс., сенсор 2/3",
5 кадр./сек при разрешении 3000x2200 точек
20 кадр./сек 1024x768 точек
Растровый электронный микроскоп JSM 6490 с приставками для
микроанализа и дифракции обратно рассеянных электронов
Назначение:
-электронно-микроскопические
исследования
изломов,
реплик,
полированных и травленых поверхностей
материалов;
- определение химического состава
отдельных фаз;
-установление
кристаллографической
ориентации зерен;
-изучение морфологических особенностей
выделений вторых фаз, вплоть до
наноразмерного уровня.
Технические характеристики:
Увеличение: до 250 000 крат
Разрешение: 3нм при 30кВ и 4,5нм при 15кВ
Двулучевой электроно-ионный микроскоп ZEISS CrossBeam AURIGA
Назначение: -электронномикроскопические исследования
изломов, реплик, полированных и
травленых поверхностей материалов;
- определение химического состава
отдельных фаз;
-установление кристаллографической
ориентации зерен;
-изучение морфологических
особенностей выделений вторых фаз,
вплоть до наноразмерного уровня.
Технические характеристики:
Увеличение: до 250 000 крат,
Разрешение: 3нм при 30кВ и 4,5нм при 15кВ.
Просвечивающий электронный микроскоп JEM 2100
с приставкой для микроанализа
Назначение:
-исследование
тонкой
структуры
материалов,
включая
дислокационную,
зеренную,
субзеренную;
-исследование
фазового
состава,
химического состава отдельных фаз и
их кристаллографической ориентации;
-изучение
морфологических
особенностей выделений вторых фаз,
вплоть до наноразмерного уровня.
Технические характеристики:
Максимальное ускоряющее напряжение: 200кВ.
Увеличение: 50-1 500 000 крат.
Режимы: TEM, STEM, EDS
Разрешение энергодисперсионного спектрометра:
136eV
Рентгеновский дифрактометр Bruker D8 Advance
Назначение:
-проведение
качественного
количественного фазового анализа;
и
-анализ текстур и остаточных напряжений
-определение периодов кристаллической
решетки, размеров кристаллитов, широкого
спектра
образцов
металлических
и
неметаллических материалов, в том числе
образцов с неподготовленной поверхностью.
Детектор и приставки:
-энергодисперсионный детектор;
-приставки текстурная и
высокотемпературная (30-1200оС)
Приборы для изучения теплофизических свойств
Дифференциальный сканирующий калориметр DSC-PT10
Назначение: определение
-температурных интервалов фазовых
переходов первого и второго рода;
-температур плавления, кристаллизации,
полиморфного превращения, стеклования,
упорядочения;
-энтальпии переходов;
-удельной теплоемкости.
Построение фазовых диаграмм;
Технические характеристики:
Температурный диапазон: –150...700 °С
Скорость нагрева/охлаждения: 0,1...100 °С/мин
Погрешность измерения температуры: ± 0,2 °С
Прибор динамического механического анализа DMA 242 C
Назначение:
определение под воздействием
малой периодической нагрузки
-модуля упругости и сдвига;
-изменения размеров,
деформации;
-характеристик ползучести,
релаксации;
-температуры фазовых
переходов;
-декремента затухания
материалов
Технические характеристики:
Tемпературный диапазон: –170...600 °C
Диапазон частот: 0,01...100 Гц
Диапазон нагрузки: 0,01...16 Н
Прибор лазерной вспышки LFA 457 MicroFlash
Назначение:
определение температуропроводности
и теплопроводности (при известных
данных по теплоемкости и плотности)
металлов и сплавов, полимеров,
керамик
Технические характеристики:
Teмпературный диапазон: 25...1100 °C;
Диапазон определения температуропроводности: 0,001...10 см2/с;
Точность определения температуропроводности: 3 %;
Образец:  12,7 мм или 10x10 мм;
Высокотемпературный дилатометр L75VD1600C
Назначение: определение
-коэффициента линейного термического
расширения;
-температурных интервалов фазовых и
структурных превращений
Технические характеристики:
Температурный диапазон: –150...700 °C, 25...1600 °C
Погрешность измерения удлинения: ±1 %
Система для определения удельного
электрического сопротивления LSR-3/1100
Назначение: определение
электрического сопротивления.
Дает возможность изучать
кинетику старения предварительно
закаленных цветных сплавов
Технические характеристики:
Температурный диапазон: –100...500оС, 25...800оС, 25...1000оС
Скорость нагрева: 0,01...100 К/мин
Погрешность измерения температуры: ±1,5 К ±0,25 %
Диапазон измерения электросопротивления: 0,2 Ом...2,5 кОм
Погрешность при измерении электросопротивления:±10 %
Приборы для изучения механических свойств
Испытательная машина Instron 3382
Назначение:
проведение механических испытаний на
растяжение, сжатие, трехточечный изгиб,
различного типа материалов в широком
интервале температур
Технические характеристики:
Максимальная нагрузка: 100 кН
Диапазон температур: температура окружающей среды…1000 °С
Максимальный ход траверсы: 840 мм
Универсальный электродинамический испытательный стенд
для ударных испытаний СЕAST
Назначение:
проведение механических испытаний на
ударный изгиб образцов с U- и V-образным
надрезом и наведенной трещиной при
комнатной, повышенных и криогенных
температурах
Технические характеристики:
Запасенная энергия удара: 0,59...1800 Дж
Скорость падения груза: 0,77...24 м/с
Спасибо за внимание!
Контактная информация: 620002, Екатеринбург, УрФУ, 3-й уч.
корпус, институт материаловедения и металлургии, Мт-247.
Контактное лицо: Беликов С.В., тел. 375-46-95, structure_lab@mail.ru.