The Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)

The Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)
Анализ ресурсов проводился экспертным советом НЭИКОН
(Доступ имеет Центральная научная библиотека ДВО РАН)
Название издательства или провайдера:
The Institute of Electrical and Electronics Engineers, USA
Название online-системы:
IEEE Xplore / IEEE/IEE Electronic Library (IEL)
Адрес в Интернет: http://ieeexplore.ieee.org/
Тематика базы (баз) данных, источников:
Электротехника, вычислительная техника, электроника, физика, биоинженерия, метрология,
связь.
Характер (виды) и количество источников:
Журналы - 187 названий, в т.ч. журналы IEE - 27 журналов, остальные -IEEE; материалы
конференций - 372; стандарты - 1505.названий. Все журналы рецензируемые. Соответствуют, в
основном, печатной версии. Метаописания книг для заказа. Полные тексты книг недоступны.
Полный объем ресурса:
Около 1,3 млн. документов (полных текстов). Еженедельное обновление. Более 25 тыс. страниц
дополняется ежемесячно.
Принадлежность (владельцы) полных текстов изданий:
IEEE - журналы, труды конференций, стандарты;
IEE (Institution of Electrical Engineers) - журналы и труды конференций;
OSA (Optical Society of America) - совместное издание некоторых журналов и трудов
конференций;
ACM (Association for Computing Machinery) - совместное издание некоторых журналов и трудов
конференций;
ASME (American Society of Mechanical Engineers) - совместное издание некоторых журналов и
трудов конференций;
ECS (Electrochemical Society, Inc.) - совместное издание некоторых журналов и трудов
конференций.
Количество авторитетных источников (расписываемых в ISI, Current Contents, Ulrich's
и.т.д.; оценка по "импакт-фактору") По данным JCR 2004 г. импакт-фактор (ИФ) имеют:
журналы IEEE: из 187 - 105, высокий ИФ - более 3-х - имеют 7 журналов, более 2-х - 17
журналов, самый высокий ИФ имеют: IEEE Transactions on Medical Imaging (3.922), IEEE Signal
Processing Magazine (3.707), IEEE Transactions on Evolutionary Computation (3.688), IEEE Journal
of Quantum Electronics (3.675), Proceedings of the IEEE (3.336) и IEEE Transactions on
Nanotechnology (3.176). Средний ИФ -1.424 (вырос по сравнению с данными 2001 г. (1.127)).
Средний ИФ платформы журналов IEEE (отношение суммы ИФ к числу журналов на
платформе) - 0.935. Immediacy Index (ИИ - индекс "незамедлительного" цитирования цитирование статей журнала этого года другими журналами этого же года) - самый высокий 1.587 - IEEE Journal of Oceanic Engineering (его ИФ - 1.159), средний ИИ - 0.212.
журналы IEE из 27 имеют 18, средний ИФ не высокий - 0.387, наибольший ИФ - Electronics
Letters - 0.968, ИИ - самый высокий этого же журнала - 0.125;
102 журнала включены в Ulrich's. Отражаются в информационных изданиях - 101. Среднее
число информационных изданий, включающих журналы IEEE - 27, в т.ч. - ВИНИТИ. Самое
широкое отражение в информационных изданиях имеет IEEE Spectrum (57).
Глубина архива:
Глубина архива полных текстов:
журналы и труды конференций IEEE - с 1988 г., избранные статьи - с 1952 г., библиография и
рефераты - полный архив с 1952 г. ;
журналы и труды конференций IEE - с 1988 г.
Форматы текстов:
Форматы полных текстов - PDF
Оглавления, резюме - HTML
Метаописания и рефераты - из БД INSPEC.
Основные разделы главного меню:
Просмотр (Browse), Поиск (Search), Руководство по системе (IEEE Xplore Guide), Поддержка
(Support).
Другие разделы: Обновление ( Content Updates), Информация о рецензировании статей (IEEE
peer-review), Изменения названий (Publication Title Changes), Предварительная публикация в
online (Forthcoming Articles), связь с CrossRef; Google (индексирование) и др.
Уровень свободного доступа (возможности свободного доступа):
Поиск журнала по алфавиту, по ключевым словам (по части слова)
Просмотр: Истории журнала, описание журнала (издающее общество, тематика,
периодичность, аннотация, контакты)
Просмотр метаописаний (бибописаний) и рефератов статей, дата публикации статьи, doi, дата и
время (часы) размещения статьи в системе;
Информация для авторов каждого журнала;
"Листание" выпуска (переход от статьи к статье) и статьям, от номера к номеру и т.д.
Выход на оглавление.
Печать (формат печати) и сохранение метаописания и реферата
Отправка метаописания и реферата по электронной почте
Оценка интерфейса:
Простой, унифицированный интерфейс. Информация и пути доступа к полным текстам
одинаковы. Но имеются некоторые ограничения. Например, нет возможности просмотреть или
сохранить весь список журналов одновременно, не пользуясь буквами алфавита.
Возможности и варианты поиска (ключевое слово / автор / год / тезаурус):
Режим поиска - только для подписчиков.
Предлагаемые варианты поисковых режимов:

По автору - быстрый поиск по фамилии автора с выбором из словаря или набором
фамилии.;

Простой. Позволяет настраивать (ограничивать) поиск - выбирать: виды изданий для
поиска, глубину поиска по годам; варианты вывода результатов: по релевантности, по
году, по названию статей, вывод по возрастанию или убыванию выбранных критериев.
Поиск по выбору полей: по всем полям, заглавию статьи, автору, названию издания,
заглавию статьи, реферату, терминам индексирования, месту работы авторов с выбором
булевых операторов, по полному тексту.

Расширенный поиск - свободная формулировка поискового предписания. Те же
настройки, что и в простом поиске. Обширные подсказки в виде примеров поиска
(Search Examples).

Поиск по связям со страниц найденных статей: по автору, по ключевым словам
(терминам индексирования), к другим статьям IEEE, цитирующим найденную статью, к
статьям IEEE из пристатейного списка. Поиск идет по всем видам документов IEEE
(статьи из журналов, конференций, стандарты) - указываются виды документов
найденных статей (JNL, CNF, STD).

Поиск через CrossRef.
Поиск по предметным рубрикам:
Специального поиска по предметным рубрикам нет. Есть возможность поиска по ключевым
словам (indexed terms), включенных в статьи некоторых журналов и материалов конференций
Возможности сохранения результатов поиска:
Предлагается настройка вывода результатов поиска: по числу показываемых на странице
документов, варианты сортировки (по хронологии, по алфавиту авторов). Имеются ограничения
на вывод числа библиографических описаний найденных документов (до 500 записей). На
страницу одновременно может быть выведено и сохранено на диск в форматах html или txt от
15 до 50 библ. записи. Такой же вариант страниц с открытыми рефератами и пристатейными
списками. Можно сохранять полные тексты в формате PDF.
Имеется возможность распечатки результатов поиска, при этом формируется формат печати.
Возможность отправки полных текстов по электронной почте:
Имеется режим отправки результатов поиска (просмотра) по электронной почте, в т.ч.
рефератов в режиме открытого доступа.
Наличие линков на сайты издательств (для агрегаторов)
Линки с системой каталогов OPAC (Online Public Access Catalog).
Наличие раздела статистики для пользователей
Очевидная статистика отсутствует
Оценка раздела help
Имеются короткие подсказки к различным сервисам, а также более подробный help ко всем
видам поиска в виде примеров (Search Examples).
Особенности системы:
Имеется раздел "Обновление содержания" (Content Updates), где размещается новое
пополнение за неделю, отдельно для журналов (название журнала, том/№, дата публикации),
для трудов конференций (название конференции, дата публикации), для стандартов (название
стандарта, дата публикации). Информация в разделе сохраняется 4 недели. Отдельный выход на
архив обновлений (с января 2004 г.).
Распространение изданий ресурса через другие системы (комментарии эксперта)
Журналы IEEE распространяются через системы вендоров, наиболее полно - через Ebsco
Publishing и ISI. Выборочно - через Gale Group (InfoTrac), Factivа.
Можно купить статью через систему Ask*IEEE Document Delivery Service
Журналы IEE представлены также на платформах других издательств, в т.ч. AIP.
Заключение экспертов
В систему включено примерно 30% мирового потока журналов по электротехнике,
вычислительной технике и электронике. Является основным источником информации для
специалистов в этих областях знаний. Хотя показатель ИФ для журналов IEEE не очень
высокий, что объясняется в значительной степени тематикой платформы (цитирования
технических журналов, так же как и их реферирования по абсолютному показателю
значительно ниже, чем журналов естественнонаучных областей знаний), средний ИФ
платформы журналов IEEE значительно выше, чем таких, например, платформ как
WileyInterscience - 0.935 по сравнению с 0.274.